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标题: 【转载】【原创】分析X射线图谱原因 [打印本页]

作者: 坚持2011    时间: 2016-2-22 10:54     标题: 【转载】【原创】分析X射线图谱原因

大家上午好,附件是我司仪器使用过程应用软件截屏打印出来图片,请各专业人员分析仪器真正原因,目前仪器不能正常工作,图谱计数率明显增大,导致仪器无法正常运行.
附件:
RAY-TEK截屏打印图片.doc
作者: small2011    时间: 2016-2-22 10:54

我帮你把图贴出来,我们遇到计数率过大,死机的情况。
作者: 坚持2011    时间: 2016-2-22 10:55

怎样解决问题呢?
都没有见过吗?
作者: small2011    时间: 2016-2-22 10:55

我们重新启动后又恢复了。
仪器公司的人来说是含量太高了。没搞懂怎么回事。
作者: 小牛牛    时间: 2016-2-22 10:55

电流过大,测量金属样品导致溢出,俗话说就是死机了。
作者: small2011    时间: 2016-2-22 10:56     标题: 回复 #5 小牛牛 的帖子

我们也出现过死机,仪器公司得人说是因为含量太高。
作者: 但是    时间: 2016-2-22 10:56

上面的图看不清楚,且不是我熟悉的机型,只能就我的知识发表一下拙见:
XRF一般设置有死时间dead time(或静止时间),其表示检测器没有发挥功能的时间,如果单位时间内某个信号太强,此时死时间会加长,不同公司的仪器此时就有区别,一些要求的有效时间必须达到,一些是不管死时间,只完成设置的分析时间,此两种情况,第一种会导致分析时间无限延长而死机,后一种分析准确度大幅下降,因此,在此种情况下,必须进行条件的改变,如降低管电流。
另外如果样品一直稳定,也可能检测器性能下降。




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