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标题: 【转载】便携全反射X射线荧光分析仪 [打印本页]

作者: 风往尘香 时间: 2016-3-4 15:03 标题: 【转载】便携全反射X射线荧光分析仪

请自己 google 搜索便携全反射X射线荧光分析仪全反射X射线荧光分析仪等文章全反射X荧儿（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、用样量少（Μl、ng级）、准确高度（可用内标法）、简便、快速，而且要进行无损分析，成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段，在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较，TXR......

作者: jiushi 时间: 2016-3-4 15:03

有这类型的仪器没。

作者: adg 时间: 2016-3-4 15:04

学习一下了

作者: ass 时间: 2016-3-4 15:04

楼主：

测量系统的最低探测限（MDL）可由公式计算：

(2)

缺少上传公式哦。

作者: ass 时间: 2016-3-4 15:05

全反射技术

Total Reflection X-Ray Fluorescence

cuturl('www.acronymfinder.com/Total-Reflection-X_Ray-Fluorescence-')(TRXF).html

作者: happydream 时间: 2016-3-4 15:05

新型仪器不太懂，学习一下

作者: iop 时间: 2016-3-4 15:06

能把你的便携全反射X射线荧光分析仪带来实测看看吗？如果性能确实优于德国SPECTRO 、英国牛津、美国Niton和Innov-X，会考虑购买

作者: jiankufanhan 时间: 2016-3-4 15:06

现在需要的不是王婆卖瓜，停留在广告宣传上。

是骡子是马就不能拉出来遛遛吗？

作者: nmn 时间: 2016-3-4 15:07

新事物，待检验

作者: shuishui 时间: 2016-3-4 15:07

只有达到两者统一的，才能走的更远。

作者: teddy 时间: 2016-3-4 15:08

有一个问题想问一下楼主，全反射在测试固体样品和液体样品时，需要做前处理么，另外对样品的放置位置有没有要求。一般前处理有什么要求

作者: vbnm 时间: 2016-3-4 15:09

固体样本为熔融表面光滑，均一，样品本身理论可以做反射体，全反射临界角位置，不同材质全反射角不同。

粉末样品150-200目，由于颗粒效应达不到全反射，要么熔融要么溶解成液体。可以直接测粉末，集体效应大幅低于通常的X射线荧光装置。

水液体滴在载片上，中心位置固定，烘干即可测。

以上大体方法，各种材料不同根据结果细微调整，有待研究处理。

需要说明的是反射体（载片）是高纯度，机械强度大。性质稳定，高平整度。是仪器的重要关键部分。

作者: 艰苦奋斗 时间: 2016-3-4 15:09

那么我测试固体样品是不同的表面粗糙度，对测试结果有影响么？

作者: 风往尘香 时间: 2016-3-4 15:10

另外能将你发的仪器图片的资料发给我看看么？因为现在全反射好象很少用，不知道到底能不能用于普通的测试。

作者: jiushi 时间: 2016-3-4 15:10

粗糙表面不具备全反射条件

作者: adg 时间: 2016-3-4 15:11

问知道哪里可以提供全反射X射线荧光测试的服务，谢谢

作者: ass 时间: 2016-3-4 15:12

德国布鲁克全反射X射线荧光光谱仪-S2 PICOFOX

TXRF产品特点：

快速分析，无需样品制备

检测下限低至 0.1 ppb

浓度范围：从 ppb 到100%

紧凑型,便携式及车载--应急检测

简单的定量分析，

多元素同时分析，元素范围 Al to U

只需连接电源

无需耗材，气体和冷却水

作者: jiushi 时间: 2016-3-4 15:12

关于全反射XRF的资料，可以参考附件

作者: adg 时间: 2016-3-4 15:13

德国布鲁克的TXRF S2 PICOFOX的工作原理是基于全反射X射线荧光光谱(TXRF)。采用风冷的钼(Mo)靶X射线光管产生初级X射线，通过多层膜单色器后形成一束能量范围很窄的单色光，以非常低的角度(< 0.1?)掠射装有样品的抛光载片，并被全反射。样品中元素发出的特征荧光被能量色散型探测器检测。因为探测器与样品的距离非常近，荧光产额非常高，而空气吸收非常低。

全反射X射线荧光光谱法与常规的X射线荧光光谱法主要的区别是，在全反射荧光光谱法中采用单色光和全反射光学元件，用全反射光束激发样品荧光，并减少样品基体的吸收和散射。其优点是：显著增强荧光产额，极大地降低背景噪音，从而拥有更高的灵敏度，可以进行微量元素分析

主要用途：用于分析液体、粉末、固体样品中常量、次量和痕量元素的快速分析，以及分析测试技术方法研究。能够迅速、准确分析从Al～U（除惰性气体及少部分元素外）的所有元素, 含量范围从1.0 ppb-100%。

作者: jiushi 时间: 2016-3-4 15:14

你这个要是真的那就牛逼大了。

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