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标题: 【转载】如何用大的析出相的条纹来侧TEM样品的厚度 [打印本页]

作者: ayanyang 时间: 2016-3-10 18:39 标题: 【转载】如何用大的析出相的条纹来侧TEM样品的厚度

小弟见一篇文献提到是用基体中大的析出相的条纹来测样品的厚度,小弟不是很懂,请问大家有谁用过或者看过这个方面的,求指教. 曾经想用CBED,但是对于统计析出相的单位个数来说工作量是实在是太大. 望各位大侠予以指教,不胜感激!

作者: 但是 时间: 2016-3-10 18:39

你说的是等候条纹吧？消光长度乘以条纹数目来粗略判断厚度？

作者: nsdm 时间: 2016-3-10 18:40

建立lz去看看黄孝瑛的电子衬度分析原理与图谱
具体的分析方法如下

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