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标题: 【求助】天然高分子材料自组装到一个表面上成膜 [打印本页]

作者: 女儿情 时间: 2016-3-19 10:21 标题: 【求助】天然高分子材料自组装到一个表面上成膜

本人是跨专业做材料的，向各位专家请教：
把一个天然高分子材料自组装到一个表面上成膜，需要用什么手段来表征比较合适，望各位不吝赐教，谢谢！！

作者: huali 时间: 2016-3-19 10:22 标题: 【回复】

个人浅见，抛砖引玉。
膜的状况
光学显微镜：粗略看看整体成膜状况
扫描电镜：看局部及大致的膜的状况
原子力电镜：详细表征自组装的结构
膜成分
可选用红外、紫外、荧光和XPS等
其实要根据应用目的来表征，要突出膜的什么性能啊？
不同的表征能突出不同的特性，没有一种表征是万能的。

作者: mimima 时间: 2016-3-19 10:22 标题: 【回复】

表面接触角测试：表征自组装前后表面亲疏水性的变化
如果是蛋白质之类的天然高分子组装，还可以用免疫组化的方法表征

作者: PP熊 时间: 2016-3-19 10:23 标题: 【回复】

如果要表征膜的致密性的话，就是要观察成膜的形貌？！使用原子力就可以了。
但是如果做修饰电极，电极表面成膜，致密性也可以使用电化学方法表征。
楼上提到的接触角也是一种比较直观和好的方法。

作者: QQ爱 时间: 2016-3-19 10:23 标题: 【回复】

组装成膜，膜厚度是一个必不可少的指标（个人认为）
测量时的要求和方法需要可以再联系我

作者: n111 时间: 2016-3-19 10:23 标题: 【回复】

是不是LBL膜啊？如果是这个的话可以借助QCM表征的，其它的一般用沙发的那些测试就够了。

作者: p1900 时间: 2016-3-19 10:24 标题: 【回复】

上面的人已经说的很详细了，补充一点，对于成膜后的样品分析，测膜厚可用D8和椭偏仪，表面粗糙度和光学性质的分析也可用椭偏仪试试看，原子力是分析自组装薄膜的很好的方法。

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