分析测试百科

标题: 【求助】描电镜测试的10-20nm纳米颗粒的照片 [打印本页]

作者: 小妖精@ 时间: 2016-3-22 11:20 标题: 【求助】描电镜测试的10-20nm纳米颗粒的照片

20nm左右的纳米颗粒，分散性不是很好，在TEM里看不清楚，能用SEM的照片说明问题吗？

图片附件: 20150513_0e4dc16c65eaabf98616XN4w2JWAjDNt.jpg (2016-3-22 11:20, 150.98 KB) / 该附件被下载次数 11
http://bbs.antpedia.com/attachment.php?aid=42888

作者: hcy517 时间: 2016-3-22 11:20 标题: 【回复】

只要解释合理，数据也不单纯依赖这个，为啥不行呢？

作者: PP熊 时间: 2016-3-22 11:20 标题: 【回复】

哦，谢谢啊，我看文献上20nm左右的颗粒在形貌表征中都是用TEM，而且我听说SEM在照几十纳米的东西可能不是很准确，是这样的吗？

作者: 大大 时间: 2016-3-22 11:21 标题: 【回复】

多做几次TEM说不定就可以找到好照片，结合你的SEM就能很好的说明问题

作者: 兔子 时间: 2016-3-22 11:21 标题: 【回复】

你这个尺寸的颗粒我感觉应该是TEM下面观察比SEM下面观察好一些，首先是你这样尺寸的样品制备SEM扫面的样品就不太好制备，我估计你这样大的颗粒是溶液法制备的（只是估计），这种情况下，你制备样品的量不可能太多，如果你弄成固相的在弄到导电胶上，感觉样品固有属性就变化很多了，并且一般SEM放大到10万倍可能状态就不太稳定，因为我个人感觉还是用TEM看，再说为什么TEM里面不清楚呢？是聚焦没调好？我个人感觉TEM用起来不SEM好用很多，并且放大倍数的范围也更广一些。

作者: aaby 时间: 2016-3-22 11:21 标题: 【回复】

TEM的分辨率的确要比SEM高，差不多一个数量级。在20nm 左右的尺度上一般用TEM和AFM比较多

作者: n111 时间: 2016-3-22 11:22 标题: 【回复】

呵呵，谢谢你啊！我是用溶液法做的。我们这里做SEM很方便，TEM就要等很长时间才能做一次，不是很熟悉。看来还是得用TEM啊！

作者: mimima 时间: 2016-3-22 11:22 标题: 【回复】

应该用TEM
20nm的SEM很难调清楚

作者: rrra6 时间: 2016-3-22 11:23 标题: 【回复】

电镜照片够用就行，没必要去追求极致。如果是场发射SEM拍20 nm的东西足够清晰了，如果是钨灯丝扫描，拍出来模模糊糊，那么去做TEM倒是应该。

作者: yuanyuan 时间: 2016-3-22 11:23 标题: 【回复】

新的sem可以凑合用吧

作者: wwwh 时间: 2016-3-22 11:23 标题: 【回复】

SEM不行
因为喷金颗粒的尺度就在几个纳米范围
不能说明你的样品

作者: xiaoxiaojinglin 时间: 2016-3-22 11:24 标题: 【回复】

SEM很难看清楚20nm左右颗粒的形貌，用TEM吧

作者: rrra6 时间: 2016-3-22 11:24 标题: 【回复】

TEM都看不清，SEM能看清楚吗，楼主把照片传上来看看呢

作者: daomei 时间: 2016-3-22 11:25 标题: 【回复】

场发射SEM拍20 nm的东西足够清晰了
是这样的。但是国外期刊要求高一些吧

作者: xgy412 时间: 2016-3-22 11:25 标题: 【回复】

最好结合TEM跟SEM，不过如果只有SEM，应该也没问题。

欢迎光临分析测试百科 (http://bbs.antpedia.com/)