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标题: 【转载】【讨论】EDXRF轻元素测试方法 [打印本页]

作者: 红旗渠 时间: 2016-3-28 09:16 标题: 【转载】【讨论】EDXRF轻元素测试方法

现在国产的能散型XRF仪器在轻元素的测试上都有着不同的测试方法，就以测试卤素中的Cl为例，Cl的能量比较低，为了得出相对准确的含量值，我所听说过的测试Cl采用的方法有抽真空法、光路优化法和能量改变法，我了解比较多的是抽真空法，它是为了排除空气中Ar对Cl的干扰，通过真空泵使样品仓处于真空状态，提高测试的准确性和稳定性，那么其他的两种方法呢？他们是采用的是什么原理？又在哪些方面有优势呢？请教一下各位大虾

作者: small2011 时间: 2016-3-28 09:16 标题: 回复 #1 红旗渠的帖子

轻元素的准确测定，的确是XRF测定的一个难点。

作者: 红旗渠 时间: 2016-3-28 09:17

现在的EDXRF仪器对于轻元素的测定还不多，想得出准确含量确实比较难，首先轻元素对测试的条件要求比较高，另外能散型的在轻元素的位置上有很多其他元素的低能谱线干扰，虽然XRF仪器是作为筛选分析仪器，但是只要有较多的适合的标样和处理各种干扰的方法，测试出各元素的相对精确含量还是可以做到的。

作者: small2011 时间: 2016-3-28 09:17 标题: 回复 #3 红旗渠的帖子

轻元素测定，现在波长色色散的仪器做起来也比较费劲
做地质样品大概有80%的数据不符合要求。还有很大的提升空间。

作者: 红旗渠 时间: 2016-3-28 09:18

波长色散的我不是很了解，我们只做能散型的，而且现在轻元素里面我们测的比较多的是卤素中的Cl，其他的测的比较少。
呵呵，好像偏离主题了...

作者: 小黄 时间: 2016-3-28 09:18

我觉得对于EDXRF的所有问题探讨不能脱离样品本身的材质。
塑料、金属、液体等等，同一个方法不同的材质严重影响检测结果。

作者: 红旗渠 时间: 2016-3-28 09:19 标题: 回复 #6 小黄的帖子

是的，EDXRF的确对测试样品有比较高的要求，现在大家所参照的标准IEC-62321上面就明确要求各测试样品必须保证材质均一，同时各材质对样品中各元素的影响是不一样的，所以要针对各种不同材质的样品建立相应的工作曲线，这样才能反映出这个样品中的待测元素的含量。

作者: 小红 时间: 2016-3-28 09:19 标题: 回复 #7 红旗渠的帖子

EDXRF测试Cl元素是存在不同的基体测试有不同的难度，如果某种样品中要测Cl，而这个样品中的S含量几乎没有的话，应该是比较好测的，但如果S的含量很高，对Cl会存在重叠的情况，这时Cl就不那么好测了。

作者: 小红 时间: 2016-3-28 09:20 标题: 回复 #4 small2011 的帖子

WDXRF测试轻元素，现在问题不是很大了，轻元素Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl，压片法测量会存在较大误差，但基本能满足地球多目标大调查项目了。

作者: small2011 时间: 2016-3-28 09:20 标题: 回复 #9 小红的帖子

目前做C，N等超轻元素，用了专门的分光晶体，测出的数据还有20%左右的数据超差。

作者: 红旗渠 时间: 2016-3-28 09:21 标题: 回复 #8 小红的帖子

元素干扰对Cl的测试影响是很大，除了S，还有Ca、Ti、K、Si、P、Ba、Fe等元素，有的是因为能量跟Cl很相近，高含量时产生干扰，有的是其低能级被激发在Cl的位置产生干扰，所以我想问一下在主题中提出的三种方法：抽真空、光路优化、能量改变他们对于轻元素的测试是基于什么原理？分别有哪些优劣？

作者: 熊猫 时间: 2016-3-28 09:22

WDXRF测试轻元素有优势，分辨率比EDXRF高出不少

作者: small2011 时间: 2016-3-28 09:22 标题: 回复 #12 熊猫的帖子

但对于超轻元素C,N好像效果不是很好。

作者: 但是 时间: 2016-3-28 09:23 标题: 回复 #6 小黄的帖子

同感我们用的是EDX-720 主要用于RoHS测试，根据和湿化学结果的比对发现对于金属样品数据偏差极大
咨询过工程师，答复是要做到标准品和样品材质要一致，但是实际怎么可能达到这个要求啊？？？

作者: 但是 时间: 2016-3-28 09:23 标题: 回复 #7 红旗渠的帖子

标线也只能分xx合金，塑料等这种大类，实际样品复杂多了

作者: 红旗渠 时间: 2016-3-28 09:24 标题: 回复 #15 但是的帖子

对于各种材质的样品，我们总的分为两大类：非金属和金属，这两大类基本上涵盖了我们日常使用的电子电器产品的各种组成材质。金属里面由于各种材质的样品中的元素组成相差很大，所以我们不得不将各种材质区分开来分别建标，比如说钢的和铜的，但是非金属里面的各种材质之间的影响却没有金属那么大，现使用的塑胶原料大多是由高分子聚合物添加各种元素组成，其基材对于元素的影响相对于金属来说要小很多，我们可以在软件测试中找到塑胶各种材质之间的差异所在，然后通过一些技术处理，减少或者消除这种不同材质的影响，从而达到我们测试的目的。现阶段EDXRF仪器多应用在RoHS及无卤这一块，基本上是能满足大多数的测试需求的。

作者: 小黄 时间: 2016-3-28 09:25 标题: 回复 #16 红旗渠的帖子

您说的两大类是指的设备设置的方法曲线吗？
如果是单纯的两条估计还是不够。
我们当时跟厂家要求装了很多条曲线：有金属的、PE的、高温焊锡的、环保焊锡的、铜合金的、液体的、镁铝的。
这些曲线多，测试时选择性好。结果也比较准确。
几年前又出来了一个“多元拟合”来做成分分析的，一般是金属样品的成分分析。个人感觉XRF未来可能会普及。和精密定量测试设备比起来还是有自己很大优势的。

作者: 小黄 时间: 2016-3-28 09:25

还有锌合金的。。

作者: 小红 时间: 2016-3-28 09:26 标题: 回复 #11 红旗渠的帖子

我一直没太明白主题提出的三种方法：抽真空、光路优化、能量改变。使用EDXRF在测量固体样品或压片时，肯定是抽真空的，而且光路肯定是优化的（每天必须做能量校正）；但能量改变我不知道是什么意思，能否具体说明一下。另外，你说还有Ca、Ti、K、Si、P、Ba、Fe等元素对Cl影响很大，能否发一个图谱来看一下，据我所知，EDXRF中Cl元素两边就是S和K，且现在的能谱能把Cl和K分开，基本没什么影响了。现在的能谱分辨率最好的，可以达到145ev。你的能谱分辨率是多少？

作者: 红旗渠 时间: 2016-3-28 09:27 标题: 回复 #17 小黄的帖子

没有，我说的两大类的意思是把我们所测试的样品大概分为两大类，而我们建立工作曲线是要根据相应材质的标样来建立的，PE的就用PE的标样来建，PVC的就用PVC标建，铜的就用铜标建，焊锡的就用焊锡标建，这个是一个原则，我们不可能用PE建的曲线来计算铜的，这就是要区分材质分别建标，拥有的不同材质的标样越多，建立的标准曲线越多，测试的结果也就更接近样品中元素的真实值，高低两点确定一条曲线，点越多，测样越准，这也就是标样对于XRF的重要所在。

作者: 红旗渠 时间: 2016-3-28 09:27 标题: 回复 #19 小红的帖子

我也不是很明白这三种方法，只是看到别人有提到过，我想应该是针对现在无卤里的Cl来的，真空可排除Ar，我听他们的意思光路优化好像是缩短探头和样品的距离来降低Ar的干扰，能量改变我也不太清楚，会不会是将Cl和Ar的峰拉开？
按照能量来看，S、K是在Cl两边，现在探测器的分辨率是可以将他们分开，但是以大多数厂家光管的激发效率来看（大多都是40-50Kv），要将近80个元素全排在30-40eV的范围内，S、Cl、K也相隔不了多远吧？低含量还可以，高含量就影响比较大了。

作者: ayanyang 时间: 2016-3-28 09:27

氯氩对哪些元素测定会有影响呀？

作者: 小红 时间: 2016-3-28 09:28 标题: 回复 #21 红旗渠的帖子

问一下，为什么要排除Ar？您说的光路优化我不是很清楚，我见的EDXRF探头都是固定的，不能伸缩的，而且样品也是固定的。
要将近80个元素全排在30-40eV的范围内（应该不是30-40ev，应是30-40kev，）。前面我说，如果S含量不高，对Cl没大影响，但S高，对Cl肯定有影响的。

作者: jom 时间: 2016-3-28 09:28

个人愚见：我觉得上述三种方法其实目的都是一样的：把被测试元素和干扰元素相互独立，便于分辨和计算；但是我们不能忽略的是XRF计算的基本原理是对特定范围内荧光强度积累的量的计算，其中特定范围内相同或相似的荧光却都很多种，如CL：2.82KeV 与其相近的强度的元素有：S、Ar、Ru、Rh、Ag等，所以在计算Cl的含量时有上述元素存在的话我们的计算结果偏差就会比正常情况要大很多，所以我们讨论准确性时不能一概而论。所以我们XRF只能做刷选型的工具不是最终判定者。

作者: 红旗渠 时间: 2016-3-28 09:29 标题: 回复 #24 jom 的帖子

Cl KA1：2.62kev，ClKB1：2.82kev。其他同感。

作者: small2011 时间: 2016-3-28 09:30 标题: 回复 #25 红旗渠的帖子

Cl的准确度大概能做到多少？

作者: jom 时间: 2016-3-28 09:30

对于准确度之说其实都是仁者见仁智者见智的！

作者: 夜蓝星 时间: 2016-3-28 09:31

如果使用Rh靶的光管，Rh对Cl的干扰也很严重。

作者: small2011 时间: 2016-3-28 09:32 标题: 回复 #28 夜蓝星的帖子

能具体说说吗？．．．．．．

作者: 小红 时间: 2016-3-28 09:32 标题: 回复 #29 small2011 的帖子

我见的EDXRF不用Rh靶，使用Pd靶材。。。。

作者: small2011 时间: 2016-3-28 09:33 标题: 回复 #30 小红的帖子

Pd靶材，不用滤光片吗？

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