Board logo

标题: 【转载】【讨论】X射线荧光可以测地质样品中的Ag吗 [打印本页]

作者: small2011    时间: 2016-3-28 09:52     标题: 【转载】【讨论】X射线荧光可以测地质样品中的Ag吗

仪器AXIOS,Rh靶X射线光管,做地质样品中Ag,可以测吗,
如果能,仪器参数如何选定?
作者: small2011    时间: 2016-3-28 09:52

查阅很多参考文献,都没提到做银,是不是
X射线没法做银?
作者: longquan    时间: 2016-3-28 09:53

可以测试银呀,
要选合金模式银元素选定,就可以测定含量
作者: small2011    时间: 2016-3-28 09:53

合金模式?大概能测定多低的含量?
作者: 小牛牛    时间: 2016-3-28 09:54

应该是可以的,条件参数可参考文献
作者: small2011    时间: 2016-3-28 09:54     标题: 回复 #5 小牛牛 的帖子

一直没找到合适的文献, 如果你有,帮忙发几篇,如何?
作者: tomm    时间: 2016-3-28 09:55

地质样品中的Ag含量太低,荧光测不了。应该用石墨炉来检测。
作者: small2011    时间: 2016-3-28 09:55     标题: 回复 #7 tomm 的帖子

石墨炉测定太麻烦,时间太长啊。
作者: tomm    时间: 2016-3-28 09:56     标题: 回复 #8 small2011 的帖子

地质样品的Ag的含量大部分都在0.0X个PPM,荧光仪已经做不到了,荧光的检出限也就是PPM,个别元素可以做到0.x个PPM,但也不是所有的元素。不要想用荧光来测了。如果是百分含量的,用XRF测量没问题。国家珠宝首饰检测中心和深圳珠宝首饰是使用荧光检测贵金属,可以测得比较好。
作者: jom    时间: 2016-3-28 09:56

高含量的还行,感觉在100PPM以下的都不怎么准,重现性很差
作者: jkh123    时间: 2016-3-28 09:57     标题: 回复 #9 tomm 的帖子

说的很对。荧光做Ag当然可以做,但是要看含量的。如果在10ppm以上,用WDXRF完全可以做,而且稳定性都很不错。但是如果用Rh靶的话,需要加Cu滤光片。
通常地质样品中的Ag含量实在太低,所以不会考虑用XRF分析,同样的Au,Pt也是这个原因。
作者: tomm    时间: 2016-3-28 09:58     标题: 回复 #9 tomm 的帖子

那么请问X荧光对Ag的检测范围是多少PPM到多少,Ag的校正元素一般有哪些?求教
作者: small2011    时间: 2016-3-28 09:59

常用的方法一般用发射光谱来测定,但是如果没有发射光谱的话,而且含量都在1个PPM以上的样品,用XRF改如何测定?




欢迎光临 分析测试百科 (http://bbs.antpedia.com/) Powered by Discuz! 5.5.0