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【转载】【讨论】X射线荧光可以测地质样品中的Ag吗
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作者:
small2011
时间:
2016-3-28 09:52
标题:
【转载】【讨论】X射线荧光可以测地质样品中的Ag吗
仪器AXIOS,Rh靶X射线光管,做地质样品中Ag,可以测吗,
如果能,仪器参数如何选定?
作者:
small2011
时间:
2016-3-28 09:52
查阅很多参考文献,都没提到做银,是不是
X射线没法做银?
作者:
longquan
时间:
2016-3-28 09:53
可以测试银呀,
要选合金模式银元素选定,就可以测定含量
作者:
small2011
时间:
2016-3-28 09:53
合金模式?大概能测定多低的含量?
作者:
小牛牛
时间:
2016-3-28 09:54
应该是可以的,条件参数可参考文献
作者:
small2011
时间:
2016-3-28 09:54
标题:
回复 #5 小牛牛 的帖子
一直没找到合适的文献, 如果你有,帮忙发几篇,如何?
作者:
tomm
时间:
2016-3-28 09:55
地质样品中的Ag含量太低,荧光测不了。应该用石墨炉来检测。
作者:
small2011
时间:
2016-3-28 09:55
标题:
回复 #7 tomm 的帖子
石墨炉测定太麻烦,时间太长啊。
作者:
tomm
时间:
2016-3-28 09:56
标题:
回复 #8 small2011 的帖子
地质样品的Ag的含量大部分都在0.0X个PPM,荧光仪已经做不到了,荧光的检出限也就是PPM,个别元素可以做到0.x个PPM,但也不是所有的元素。不要想用荧光来测了。如果是百分含量的,用XRF测量没问题。国家珠宝首饰检测中心和深圳珠宝首饰是使用荧光检测贵金属,可以测得比较好。
作者:
jom
时间:
2016-3-28 09:56
高含量的还行,感觉在100PPM以下的都不怎么准,重现性很差
作者:
jkh123
时间:
2016-3-28 09:57
标题:
回复 #9 tomm 的帖子
说的很对。荧光做Ag当然可以做,但是要看含量的。如果在10ppm以上,用WDXRF完全可以做,而且稳定性都很不错。但是如果用Rh靶的话,需要加Cu滤光片。
通常地质样品中的Ag含量实在太低,所以不会考虑用XRF分析,同样的Au,Pt也是这个原因。
作者:
tomm
时间:
2016-3-28 09:58
标题:
回复 #9 tomm 的帖子
那么请问X荧光对Ag的检测范围是多少PPM到多少,Ag的校正元素一般有哪些?求教
作者:
small2011
时间:
2016-3-28 09:59
常用的方法一般用发射光谱来测定,但是如果没有发射光谱的话,而且含量都在1个PPM以上的样品,用XRF改如何测定?
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