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标题: 【转载】：【求助】F-7000测量荧光量子效率的问题 [打印本页]

作者: jiankufanhan 时间: 2016-4-9 15:16 标题: 【转载】：【求助】F-7000测量荧光量子效率的问题

不知道怎么做固体的荧光量子效率。照说明书做了一下，量子产率不是0就是负数。

校正的部分先不管了。测量的部分 method部分不知道选 emission还是exctitation，激发波长啊，范围啊，也不知道有什么讲究。

重点是这么设定后，出来的光谱除了激发光有一个峰，其他荧光峰一个也没有，也不知道是哪里出了问题。只好来求教大家了。

坛子里搜了搜，资料有一些，基本上手头都有了，只不过是英文的。

测荧光量子效率的时候要先测一个标准物质，然后再测一个试样，之后导入数据进行计算。我的问题是用发射光谱还是激发光谱来做测试有什么区别吗？有做过的人能详细写一下步骤就好了。

作者: adg 时间: 2016-4-9 15:18

F-7000没驶过。

不过固体量子效率和液体不同，差别挺大的，尤其是反射峰那块。

至于校正吧，大多数只能差不多就那样，高精度测量目前在现成仪器上是不可能实现的。

我搞过几年固体荧光量子效率的测试分析，国际上大多数测试方法从原理上讲本来就存在很多简化，这种简化在某些波段会引起很大的误差（结果就是测量出来的量子效率为负或者超过1）。

最简单的方法，找个荧光激发发射峰和你样品类似的，做参比，利用它的量子效率来反推你的量子效率。

作者: ass 时间: 2016-4-9 15:18

谢谢您的解答。貌似就是对我的某些物质内量子效率为负数，外量子效率还是正的。不知道这种结果有没有参考价值

当外量子效率超过0.3的时候，内量子效率就大于1甚至是负的。不明白测量误差为什么会导致测的吸收值为负数。

作者: happydream 时间: 2016-4-9 15:18

刚刚收到工程师的回复，散射光范围设错了。明天重新计算一下应该就可以了。感谢1楼的热情帮助。

作者: iop 时间: 2016-4-9 15:19

粉末材料的量子产率测量（积分球辅助）一般都是采用发射谱来测定激发峰（散射峰），和荧光峰；条件相同或者具有比例计算可能；设定发射波长范围包括从激发波长-10nm到发射波长完毕。

基础校正很重要。

作者: jiankufanhan 时间: 2016-4-9 15:19

照工程师的做了，结果全部接近0，还是不对啊。不知道您所说的基础校正是什么？散射校正，无样本校正和有样本校正？之前工程师来过，校正后留下一些校正文件，不知道可否直接使用？

我的东西发射光谱从550开始到700结束

用激发波长480nm，范围470-700nm，您看可以么？

因为是做膜的材料，首先测了一块标准物质的光谱，然后换白板夹我的试样测一个样品的光谱。最后导入这些数据，设定散射光范围和荧光峰范围。

工程师说散射光范围在激发波长的正负10nm。

作者: nmn 时间: 2016-4-9 15:20

所谓测发光效率，首先需要发光光谱。

需要先期测量是否发光？正常测定条件下，能够观测到足够信号强度？如果没有，当然发光效率是可能为0.

作者: shuishui 时间: 2016-4-9 15:20

我的东西一定发光，而且很强。以至可见光照射下能显出鲜艳的红色，荧光量子效率应该在0.1以上。在那个条件下，普通的发射光谱能做出来，而且比较明显。不过保持同样的条件，换了积分球，峰就不明显了。因为激发光附近的那个峰很高。有必要调狭缝宽度？

作者: teddy 时间: 2016-4-9 15:21

测定过程一定有问题。可以先做发射光谱扫描。

看来操作说明书你一定要细细阅读了。

可以在积分球状态下，做光谱扫描看看。

作者: vbnm 时间: 2016-4-9 15:21

您是说，在安装积分球条件下直接装样品做发射光谱？怎么说呢，现有条件，发光峰的高度是40。如果用480nm激发，在480会有一个很高的基频峰出现，大概是4000，可能是因为这个导致测量不准？

说明说很烦人，有罗丹明，氧化铝，白板（可能是硫酸钡？，纯白的白片），标准参比物质（白色的片后面加了个盖子的那种），罗丹明是测溶液量子效率的可以不管。后三样东西弄晕了。

照操作书上是这样的，先把氧化铝装矩形盒测无样品校正，然后加标准参比物质测有样品校正

然后氧化铝装矩形盒测无样品光谱，然后测戴测物质光谱。

作者: 艰苦奋斗 时间: 2016-4-9 15:22

测定固体量子效率前，对于仪器有个性能验证及光谱校正的要求，包括：激发、发射波长的准确性，信噪比。激发光谱、发射光谱的校正。及长波长的校正，关于这些可以参照说明书。

之后在用积分球的情况下测定发射谱，确定最佳激发波长与发射谱范围。然后优化条件，调节狭缝与电压，使得激发光的散射光强度没有超出仪器检测限，而且发射光谱不能太弱了，并选择不同的扫描速度，比较重复光谱，确定最佳扫描速度。

再然后，才是用氧化铝测定激发光的强度，然后是激发光散射强度与发射光谱。再然后是间接激发的情况，然后是根据公式去计算得到绝对的量子效率。

作者: 风往尘香 时间: 2016-4-9 15:23

感谢您的详细叙述。有几个问题能讲细一点吗？

1. 您所说激发光的散射光强度如何测得的？比如400nm激发的发射光谱，是不是峰值在400的那一个峰就是散射光的峰？

2.氧化铝测定激发光的强度如何做？把氧化铝放矩形盒做发射光谱？氧化铝测激发光散射光强度如何测呢？

作者: jiushi 时间: 2016-4-9 15:23

1,积分球两个孔都放氧化铝，注意是放在比色皿里面，然后氧化铝填的时候要结实点。然后用400激发，比如380到500扫描发射。这样400的那个峰的面积可以看成是激发光强度A。

，然后换上样品，注意样品在比色皿里面要尽可能的多，也要结实，否则会漏光。扫描后出来的发射谱，400的峰面积是B，样品的发射光谱峰面积是C

这样量子效率就是C/(A-B)

另外，按照手册，再去测定间接激发的量子效率

作者: adg 时间: 2016-4-9 15:23

非常感谢解答，理论算弄清楚了，实际操作上还有点问题，继续请教。

1. 积分球两个孔都用氧化铝测的是激发光强度，那么换样品扫发射谱的时候，积分球两个孔分别放的是什么？一个氧化铝一个样品？

2.仪器应该测的是相对量子效率，第一次测的是标准物质，那么积分球两个孔应该分别放什么呢？第二次测样品，又该怎样放？

其实是不明白氧化铝会不会吸收，会不会发光，照推断应该是既不吸收也不发光的才对。所以，如果我的试样为膜，可以用氧化铝圆片和膜一起盖住一个积分球的口进行测量，不知道这么理解对不对？

我们那个仪器有两种板，一种是圆形纯的白板，一种是圆形白板后面加了个盖子的，具体两种板是什么东西都不知道，说明书上也没有。

氧化铝粉末是另外装一个罐子的，装粉末的比色皿也有。

作者: ass 时间: 2016-4-9 15:24

还有相对法测荧光量子效率，不是应该知道标准物的效率吗？但是说明书里没有提到那是什么物质，那么仪器又怎么能够自动计算量子效率？迷惑得很

作者: happydream 时间: 2016-4-9 15:25

相对法测定的时候才是需要相对标准物质的，主要用来测定液体类样品或者溶解后的。

积分球是用来测定绝对量子效率的。

另外，官方解释，日立的这个积分球附件仅能用来测量固体粉末类样品的量子效率，还有不能透光的块状，片状固体。至于薄膜，我不能肯定的回答你是否可以。

随仪器有一个标准白板，就是有个黑屁股的，这个是某种特氟龙吧，有一个信封里面列出的不同波长下的反射率。

还有一个白板是硫酸钡白板，用来堵住积分球的左侧和前侧的孔的

还有是氧化铝粉末，用来装在比色皿中作为与样品的对比的。

1，测定激发光强度，此时左侧白板，外侧氧化铝比色皿

2，测定发射光，左侧白板，外侧薄膜后用白板（我不知道你薄膜多厚，可能会漏光，这样就不准了）

3，测定间接激发光强度，左侧氧化铝比色皿，外侧白板

4，测定间接发射，左侧薄膜，外侧白板

完成后把结果分别倒入到软件里分别计算直接的量子效率与间接的，然后手动计算出绝对量子效率(小日本太偷懒的，前面软件都搞好了，最后一步居然要手算，太有才了）

另外，如果发射谱与倍频有干扰还需要用滤光片。这个有单独的计算方式

作者: iop 时间: 2016-4-9 15:25

非常感谢，您解释得非常详细。今天看到附录才知道固体荧光量子效率用的是绝对法。它的原理是先通过散射光确定激发光的强度，然后放样品，同时测散射光和荧光。散射光减弱的部分为吸收，荧光除以吸收即为量子效率。道理虽简单但是需要对积分球校正。关于积分球校正与测量还想跟您确认一下。

把问题归纳一下大概是这么几个？

1. 黑色屁股的白板起什么作用，它在指定波长下有确定的反射率但并不知道它的具体作用，特别是在积分球校正中用它的作用（见末尾积分球校正步骤）

2. 氧化铝，硫酸钡，黑色屁股的白板，分别有没有吸收，有没有荧光？

3. 和第2个问题相关，在校正或测量的部分，氧化铝＋比色皿这样的设置能不能用硫酸钡白板或黑屁股白板代替？

比如说校正无样品积分球特性时，将前侧换成硫酸钡白板，是否影响测量结果？

手册上是这么写的

1. 积分球校正

积分球无样品下：左侧白板    前侧reference reflectance material＋比色皿（这个应该是氧化铝？）

积分球有样品下：左侧白板    前侧standard  reflectance  （带黑屁股的白板）弄不明白这步和最后的样品测量有什么关系，呵呵。

2.样品测量部分

积分球无样品下：左侧白板    前侧reference reflectance material＋比色皿

积分球有样品下：左侧白板    前侧样品＋比色皿

作者: jiankufanhan 时间: 2016-4-9 15:26

黑屁股的是标准白板，软件本身已经记录了其各波长下的反射率（当然这个还可以到软件里面去修改，具体怎么就忘记了）。在校正的时候，有样品的情况下就是用标准白板来代替样品测定其余氧化铝各波长的反射率不同。

那三个都没有吸收都没有荧光，理论上是100%反射的，但是实际可能会有一点点的误差。

不能代替的，因为前面积分球校正的时候是计算的标准白板与氧化铝比色皿之间的反射率系数，换了就一样了。而且你粉末样品是安装在比色皿中，所以用氧化铝来做间接的参比

作者: nmn 时间: 2016-4-9 15:26

氧化铝粉末是用来代表空白条件下的数据的

作者: jiankufanhan 时间: 2016-4-9 15:27

我是初学者，最近要测量发光玻璃的量子效率，原理是和荧光的测量方法一样吗？原理呢？请大家帮忙

作者: nmn 时间: 2016-4-9 15:28

固体的量子效率不能用参比法的吧？参比法适用于各项同性的材料，而要测的固体不一定是各向同性材料啊

作者: shuishui 时间: 2016-4-9 15:29

固体材料不用考虑各项异性的问题。

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