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标题: 【转载】【讨论】ICP扣背景需要哪些经验与原则 [打印本页]

作者: longquan 时间: 2016-4-10 09:44 标题: 【转载】【讨论】ICP扣背景需要哪些经验与原则

ICP扣背景需要哪些经验与原则

作者: jom 时间: 2016-4-10 09:44

同问。。。。

作者: 红旗渠 时间: 2016-4-10 09:45

一般换是采用基体匹配，扣背景有的软件有自带的功能，直接选择下就可以。

作者: longquan 时间: 2016-4-10 09:45 标题: 回复 #3 红旗渠的帖子

碰到背景异常的情况，软件自动扣已经解决不了问题了？

作者: 红旗渠 时间: 2016-4-10 09:46 标题: 回复 #4 longquan 的帖子

那需要准确的话换是需要基体匹配或者标准加入

作者: 小熊猫 时间: 2016-4-10 09:46 标题: 回复 #4 longquan 的帖子

异常情况下，是不是要手动操作了呀

作者: longquan 时间: 2016-4-10 09:47 标题: 回复 #6 小熊猫的帖子

是啊！这就是经验的总结了

作者: 小牛牛 时间: 2016-4-10 09:47

最具操作的应该是标准加入，但是干扰不能太严重。严重的话我觉得换AA。例如磁铁中测试铅.

作者: small2011 时间: 2016-4-10 09:48 标题: 回复 #2 jom 的帖子

等待专家。......

作者: longquan 时间: 2016-4-10 09:49 标题: 回复 #8 小牛牛的帖子

单一的干扰还是可以的

作者: tomm 时间: 2016-4-10 09:49 标题: 回复 #8 小牛牛的帖子

你好，我们也有测定磁铁中的铅，请问用AA效果会更好？直接测定还是要再怎么处理？我们有碰到干扰峰直接和样品峰重叠的...这种情况也可以分析吗？

作者: a456 时间: 2016-4-10 09:50

我用的是pe的，把十字放两端平滑的地方。或者只扣一边。

作者: longquan 时间: 2016-4-10 09:50 标题: 回复 #12 a456 的帖子

只扣一边是否有异常情况？

作者: 小黄 时间: 2016-4-10 09:51

扣除空白的时候其实也把背景一起扣除了，除非你的样品基体和你的空白的基体不一样...扣了空白一般都还是比较好的。

作者: longquan 时间: 2016-4-10 09:51 标题: 回复 #14 小黄的帖子

这种情况下样品基体都是有点复杂的，那样品背景就是存在问题，需要单独扣除

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