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标题: 【求助】求助SEM电镜问题。 [打印本页]

作者: aaby 时间: 2016-5-1 11:44 标题: 【求助】求助SEM电镜问题。

求助SEM电镜问题。
我知道我扫的东西，里面应该含有CaSO4,扫描电镜没扫到，然后用EDS面扫，结果还是没有。
查文献，说SO42-离子可以进入某个大分子的晶格中。我就想问下，如果其进入晶格的话，是否面扫也找不到呢？

作者: rrra6 时间: 2016-5-1 11:44 标题: 【回复】

量大的话不会的，你多划两条线试试看，又或者你做个荧光看看

作者: 燕子@ 时间: 2016-5-1 11:45 标题: 【回复】

含量低于1%是扫不出来的！

作者: 灵魂 时间: 2016-5-1 11:45 标题: 【回复】

EDS分辨率和准确度也是很低的，跟电子束大小有关

作者: 妮子@ 时间: 2016-5-1 11:46 标题: 【回复】

跟晶格没关系，只对元素敏感，但是要量大，厚度也要高才行，否则扫不到很正常，可以考虑补个XPS试试，这个敏感度高很多

作者: 美人鱼 时间: 2016-5-1 11:46 标题: 【回复】

EDS仅可对表面以及临近表面一定深度的区域进行元素成分扫描，并且其检出限的下限一般为0.5~1.0%。因此，若CaSO4的含量大于间出现的下限的话，应该能够检测出来。即使其进入大分子的晶格的话，面扫也应该找得到。

作者: 钻石 时间: 2016-5-1 11:46 标题: 【回复】

你只是想知道硫酸根，为什么要做扫描呢！做个XRF试试:hand::hand:

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