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标题: 【转载】：【讨论】四探针测试金属银膜不稳定的情况 [打印本页]

作者: 风往尘香 时间: 2016-5-2 16:58 标题: 【转载】：【讨论】四探针测试金属银膜不稳定的情况

四探针测试自制的金属银纳米线薄膜时，出现一个现象，随着探头压力的增加，电阻率发生相应的变化，应该是压力越大，电阻率越大。我测试硅片的时候就很稳定，不知道是什么原因造成的。大家有没有其他材料有这种情况呢

作者: jiushi 时间: 2016-5-2 17:00

貌似不是荧光的问题，搞错了地方？

作者: adg 时间: 2016-5-2 17:00

什么原因？为什么？求大神

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