标题:
网络讲座 AFM图像离线分析
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作者:
qiuhan
时间:
2017-2-16 16:43
标题:
网络讲座 AFM图像离线分析
网络研讨会:AFM图像离线分析
【
内容简介
】
原子力显微镜(AFM)被广泛用于科研和工业界各领域,涵盖了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,细胞表面形态观察,生物大分子的结构及性质,生物传感器,分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。本次讲座我们将重点介绍采用Bruker NanoScope Analysis离线处理软件对所获取的 AFM图像进行后期处理以及数据分析。
本次讲座的内容主要包括:
1、介绍NanoScope Analysis软件中图像处理类功能的原理以及使用方法,包括Flatten, Erase, Plane Fit, Lowpass等。
2、介绍NanoScope Analysis软件中数据分析类的功能,包括Section, Roughness, Step, Particle Analysis等。
主讲人:
殷豪
,博士,布鲁克高级技术支持工程师,客户培训讲师。
注册报名
:
http://www.antpedia.com/webinar/888368347.html
讲座时间
:2017年
03
月
03
日 上午
10
:00
无需来回奔波,不受地域限制,只需
1台电脑
、
网络
,即可
免 费
参加会议,方便、快捷、高效!
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