X荧光(XRF)知识必备

  1、EDX设备工作原理是什么?

  答:原理:通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光,初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线,也就是我们通常所说的X荧光,X荧光被探测器探测到后经放大,数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。

  2、什么是我们作为元素分析的基础?

  答:特征X射线,其由被测量物质的基本组成元素决定,元素不同,其特征X射线能量不同

  3.为什么XRF RoHS测金属的结果与有些权威机构有差异?

  答:(1)光谱分析为表面物理分析,比如化学溶样分析方法,两种测量方法之间的差别。

  (2)金属标样自身的误差。

  (3)金属样品表面有镀层

  4、为什么不能测量出六价铬、PBB和PBDE的含量?

  答:因为X荧光原理决定的,X荧光光谱仪只能测量物质中的元素的总含量,而对其的化合状态无法判别,所以,六价铬、PBB和PBDE的含量无法检测。

  5、为什么不能测量出六价铬、PBB和PBDE的含量?

  答:因为X荧光原理决定的,X荧光光谱仪只能测量物质中的元素的总含量,而对其的化合状态无法判别,所以,六价铬、PBB和PBDE的含量无法检测。