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标题:[未解决]场发射扫描电镜可以做显微偏析吗？

  [未解决]本主题悬赏 可用分 10  
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发表于 2009-10-26 14:25 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

场发射扫描电镜可以做显微偏析吗？

我正在做材料的显微偏析（S和P）,去年我用EPMA做，可是EPMA的成像不好（比不上扫描电镜），我没办法分辨微区（几个微米左右），另外材料中S含量很低，只有几十个ppm左右，SEM打不出来。我想问问大家，我这种情况，用场发射扫描电镜可以实现吗？如果不行，还有什么其他的方法可以实现啊？谢谢，我就靠这个博士毕业呢，呵呵。。。
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发表于 2009-10-26 14:34 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
若s、p不是以某种形态，如粒子、化合物什么的存在，而是在固溶体中，则无法用SEM辨别形貌。 通常现扫或面扫可以确定偏析情况，但SEM附带的eds也无能为力，毕竟元素含量太少了。

对否？

[ 本帖最后由 77466 于 2009-10-26 14:38 编辑 ]
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发表于 2009-10-26 14:38 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
是的，S、P是以固溶体的形式存在钢基体中，但是我并不是想看S、P的形貌，而是钢的枝晶干和二次枝晶臂处P、S含量的差异（也就是枝晶偏析），因为二次枝晶间距只有几个微米，S、P含量又很低，只有几十个ppm，所以很难，不知到采用什么方法好。
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发表于 2009-10-26 14:38 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
一般SEM 佩戴的EDS分辨极限在700ppm，而WDS在100ppm左右，你的元素用能谱或波谱似乎都不行了。
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发表于 2009-10-26 14:39 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
用TEM制作样品可能有一定难度，要保证在样品上顺利找到枝晶臂，干。
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发表于 2009-10-26 14:50 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
TEM倒是能看得出，不过有谁能有办法把样品的位置做得那么精确呢，运气不是一般的好。难
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发表于 2009-10-26 15:03 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
那先看看有没有场发射SEM上面配波谱的, 先试试吧. 但我估计可能用XPS或AES做可能会更合适吧
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