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标题:[未解决]TEM和STEM图像的差别？

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发表于 2010-6-8 14:08 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
哦？为什么这么说呢？跟极靴的形状有关系吗？
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发表于 2010-6-8 14:09 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
F20作能谱时要求倾转20°，说在TEM模式下可以实现EDS分析，它有微米束模式＆纳米模式，但我不知道如何操作
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发表于 2010-6-8 14:09 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
？奇怪，F20没有EDS模式？那就把束斑调小做EDS吧，对于大颗粒倒是问题不大。
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tudou[使用道具]
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发表于 2010-6-8 14:09 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
这个问题太简单了，在什么模式下都可以做能谱，问题只是空间分辨率和计数率的要求。JEOL单独设一个EDS模式，FEI对应的是纳米模式，只不过叫法不同而已。另外，样品倾转(F20大约15度）也不是必需，但你会看到计数率明显的改进，特别当光束很小的时候。半导体多层结构不允许样品倾转，也照用无妨。

无论TEM还是STEM都可做EDX。在F20上，STEM是纳米模式，故效果上与TEM纳米模式没有什么原则不同，只是更方便你控制光束在样品上的位置。
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发表于 2010-6-8 14:09 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
多谢！有学到了新知识
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发表于 2010-6-8 14:10 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
我觉得转不转角看情况，有时不转角也可以做EDS，但是有时基数太低就不能做，转角后会有明显增强。
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