二次离子质谱仪

－种新的表面分析仪器ｔｏｆ－ｓｉｍｓ飞行时间二次离子质谱

　　飞行时间二次离子质谱仪

　　飞行时间二次离子质谱仪PHI TRIFT V nanoTOF™

　　飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS: Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)利用一次脉冲离子轰击样品，通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量(m/z < 100,000)，以分析样品的表面组成。TRIFT V nanoTOF继承了离子通过率高的三次聚焦静电分析器，全面改良了的光学系统，可提高空间分辨率和分析灵敏度。由于拥有深的景深，即使形状复杂的样品亦能准确测量。通过全新的样品传送机械装置及自动5轴式样品台，即使大直径或高度不同的大多数样品，亦能在不影响运作下进行分析。

　　应用　支架的三维成像

　　拥有治疗心绞痛和心肌梗塞等用以释放药效的药物涂层支架备受注意。通过三维成像TOF-SIMS分析的深度方向数据，可见聚合物乳酸(绿色)表层分布在雷帕霉素的多个区域。这个功能可从不同角度拍摄药物分布。

　　应用　钛丝的二次离子图

　　在布线图中Ti(绿色)和Si(红色)的离子图测量例子。能满足污染物观察、显微观察、样品切面观察等各种分析要求。利用标准的液态金属离子枪，可以清晰观察到微小部的元素分布。

　　应用　高质量区的高空间分辨率图

　　左图为Au模式表面里Si基板上自组织的Ru共轭体(C54H34N10ORu+: m/z 940)离子图。右侧显示了离子成像光谱。高质量区的分子种在3μm宽度下清楚地被捕捉。