绝对精品：二次离子质谱分析（SIMS）讲义

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标题:绝对精品：二次离子质谱分析（SIMS）讲义

amelican_beauty[使用道具]
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发表于 2010-10-16 11:23 资料个人空间短消息加为好友

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　　二次离子质谱

　　(Secondary Ion Mass Spectrometry 简称 SIMS)

　　一、简介

　　二、离子与表面的相互作用

　　三、溅射的基本规律

　　四、二次离子发射的基本规律

　　五、二次离子质谱分析技术

　　六、二次离子分析方法

　　七、二次离子质谱的研究新方向

　　八、总结

　　SIMS的主要特点：

　　1. 具有很高的检测极限

　　对杂质检测限通常为ppm，甚至达ppb量级

　　2. 能分析化合物，得到其分子量及分子

　　结构的信息

　　3. 能检测包括氢在内的所有元素及同位素

　　4. 获取样品表层信息

　　5. 能进行微区成分的成象及深度剖面分析

资料下载地址：二次离子质谱分析（SIMS）讲义

uwku58h[使用道具]
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发表于 2010-10-16 14:43 资料个人空间短消息加为好友

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资料不错，谢谢共享！

thereyoube[使用道具]
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发表于 2010-10-16 14:45 资料个人空间短消息加为好友

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支持分享，一起进步。。

hongyankongjian[使用道具]
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发表于 2012-5-18 14:38 资料个人空间短消息加为好友

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下载学习一下，谢谢分享