主要内容：
•XPS 的发展
•基本概念
•XPS 的工作流程及原理
•XPS谱线中伴峰的来源
•XPS谱图中伴峰的鉴别
•利用XPS谱图鉴别物质
•XPS的实验方法
•XPS谱图的解释步骤
•XPS 的特点
XPS 的发展：
•XPS理论首先是由瑞典皇家科学院院士、乌普萨拉大学物理研究所所长 K·Siebahn 教授创立的。
原名为化学分析电子能谱:
ESCA(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。
•1954年研制成世界上第一台双聚焦磁场式光电子能谱仪。
•XPS是一种对固体表面进行定性、定量分析和结构鉴定的实用性很强的表面分析方法。
•现今世界上关于XPS的刊物主要有：
Journal of Electron Spectroscopy.
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