小中大SDD计数率更高,理论上来说可以测试更快。刷洗,哥们,你不会以为SDD是运动鞋吧?@_@ 至少我没有听说过。EDXRF上用的SDD探测器应该不存在清洗这回事。
不过SDD的Si片通常厚度在0.5mm,比Si(Li)的常见3-5mm薄,在高能端(> 20keV)表现上,SDD比Si(Li)要差。不过现在SDD已经成为或者正在成为主流技术。就你关心的Ta、W、Co、Ni这几个元素,能量在7-12keV之间,SDD和Si(Li)表现应该差不多。
从原理上来说,用在扫描电镜(SEM)中的SDD检测器,可能有清洗的可能。因为SDD工作时必须要制冷,在高真空腔中,这就相当于冷阱,可能会加剧碳沾污的情况发生,是不是就会出现你说的清洗的情况?
你还没有回答我的问题呢:
1. 土豪,你们单位还招人不?@_@
2. 帕纳克的那个E3-X是不是透射式光管哦?咨询一下帕纳克的销售给个确认信息呗,是还是不是。