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标题:【求助】利用共焦技术分析高分子样品的深度分布

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【求助】利用共焦技术分析高分子样品的深度分布

标签:高分子  共焦光谱

在renishaw的仪器介绍里看到这个例子,用633纳米激光分析高分子样品的深度分布。

样品:2微米厚度的PE膜,厚的PP基底

条件:用50倍镜头逐渐从PE表层聚焦到基底PP层

取得图谱结果:PE光谱中很微弱的PP的信息;随着聚焦点深入,PP信号逐渐增强,直至完全只出现PP图谱。(结果如下图)

我想请问各位老师,

一、当聚焦到PP基底时,上层的PE信号就完全没有了吗?激光不是先经过PE,然后在进入PP层,为什么会完全没有PE的信号呢?

二、我们其他一些不透明的多层样品,是否也可以通过这个办法逐层测试其中的成分?
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xue258[使用道具]
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一、由于激光没有聚焦在上层,所以打在上层的激光功率密度较低,所以激发出的拉曼信号很弱,不能被CCD探测;

二、对于不透明样品,激光无法在下层聚焦,故无法逐层测试
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xue258[使用道具]
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再请问他们这种透明薄膜下面那层PP膜聚焦怎么聚?是以什么参照物聚焦?还是考虑上面PE膜是2微米,就用软件控制步进2个微米左右,就算聚焦到PP层了??
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youreyes[使用道具]
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对于透明薄膜可以做到,首先将激光聚焦在上层膜表面成比较清晰的像(可以用Renishaw的白光照明或者将激光光斑调到最小)然后调整载物台高度使光路向样品下方聚焦,直到再次能够看到比较清晰的像,这样激光就聚焦在了两层膜的界面上了。这个方法的前提是你的膜比较均匀。
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QUOTE:
原帖由 youreyes 于 2014-11-11 16:32 发表 bbcodeurl('http://bbs.antpedia.com/images/common/back.gif', '%s')
对于透明薄膜可以做到,首先将激光聚焦在上层膜表面成比较清晰的像(可以用Renishaw的白光照明或者将激光光斑调到最小)然后调整载物台高度使光路向样品下方聚焦,直到再次能够看到比较清晰的像,这样激光就聚焦在了两层膜的界 ...

那是否可以这样,反正基底层PP很厚,我不一定刚好聚焦在分界层,直接多调整点置物台距离,让激光直接聚焦到PP的体相中,那应该也可以采集到PP的信号吧?有时膜不均匀,想找分界层可能有点困难。
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youreyes[使用道具]
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可以的 不过聚焦的越深, 拉曼信号有衰减 具体要根据你的样品特征决定
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