小中大不知道你所指的整体表面形貌指的是什么,透射样品本身就很小,能观察的区域只是很小的一部,对于STEM的话并不是完全和SEM相同,关于STEM,你可以参看帖子
cuturl('http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20060622/465392/index.shtml')
如果要是研究材料的晶体结构,TEM为比较合适的选择,但是如果你想看大区域的表面形貌,SEM为较佳,而STEM依然还是TEM中的一种,还是受到样品的限制,只是在观察时比传统的TEM要直观
对于你所说TEM所观察的区域没有代表性,这是不能认同的,除非你的的电解质是极不均匀的,
传统的扫描电镜如果要升级的,不太可能突破机械本身的限制,这就好比电脑,CPU限制电脑的效能,不管你如何增大内存条,CPU本身是不变,而CPU又和主板有着直接关系,这和电镜差不多,当然如果你更换很多关键的部件,估计总体的费用和买台新的费用相当,现在比较好点的SEM要观察几个纳米大小的可以还是没问题的,何必花尽心思和money来做这些不值的事,我是这么认为的,欢迎讨论