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标题:[未解决]【转载】【讨论】用XRF荧光法分析炉渣中的S含量,准吗?

  [未解决]本主题悬赏 可用分 10  
ayanyang[使用道具]
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S含量检测应该没问题吧,给你个报告看看。
或者写邮件给我,llyang@amcabj.com
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tomm[使用道具]
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谢谢,这个附件怎么下载啊
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tomm[使用道具]
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回复 #11 ayanyang 的帖子

谢谢,这个附件怎么下载啊。未验证。。
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ayanyang[使用道具]
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回复 #12 tomm 的帖子

给我邮箱,发给您。
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检测数据看干什么用了,常量分析,XRF的半定量结果还是很可靠地,难道是想用炉渣做水泥(否则关心硫含量干什么?)。
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回复 #12 tomm 的帖子

已经验证了
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tomm[使用道具]
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回复 #14 ayanyang 的帖子

验证了,可以下载,3Q
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测S含量本身对XRF的要求就高,1楼说的是正解,这是测量方法上的要求,对于硬件来说,如果是能谱的话,探测器起码要SDD的才行,像Si-PIN探测器就不可能做到了
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ayanyang[使用道具]
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回复 #18 nsdm 的帖子

No. No. No
最初X荧光使用的还是正比计数器的时候,照样有人用来测S测得还不错的。要看你在什么样的检测范围,以及可能产生的相互干扰元素都有没有,还有基体效应等等,不能一概而论。X荧光最便宜都是几十万的仪器,Si-PIN检测器是现阶段价格比较便宜的,能满足要求的话,无需非SDD不可,甚至就算你一定要较高的Si-Li检测器,也要看冷却能不能满足要求。就像你只需要做文档,打印报告什么的,需要买个Mac Pro吗?
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小猫[使用道具]
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同意!
检测不是器材流,在于检测对象和检测要求。
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