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标题:[未解决]请问TEM的断面分析可以得到金属表面的氧化层厚度吗?

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请问TEM的断面分析可以得到金属表面的氧化层厚度吗?


   大家好!我想分析金属表面的native oxide,不知用TEM可否清晰地看
到氧化层的边界?如果不能,用eels或者EDS可否做到成分的分析?eels
和EDS的深度和空间分辨率多少啊?谢谢!

(我的样品是CuInGa的三元合金,厚度大概几个微米,氧化层估计几纳
米吧)

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  • miracle   2011-3-17 11:28  可用分  +2   鼓励新手发起话题交流!欢迎常来! ...
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TEm 做氧化层断面分析 试样不好做啊,你是怎么做的?
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高分辨肯定能,前提是你样品做得足够好。如果分析氧化物的话xps比eels和EDS更好
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回复 #2 trymybestchy 的帖子

呵呵,老兄,我也没做过,我是请教一下可否做
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allenren[使用道具]
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回复 #3 fjdlgldg 的帖子

谢谢!xps肯定可以看出成分信息,但是我想知道氧化的厚度是多少?不知你有何见解
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QUOTE:
原帖由 allenren 于 2011-3-17 17:03 发表 bbcodeurl('http://bbs.antpedia.com/images/common/back.gif', '%s')
谢谢!xps肯定可以看出成分信息,但是我想知道氧化的厚度是多少?不知你有何见解

那可以试试HRTEM,或者SIMS
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trymybestchy[使用道具]
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QUOTE:
原帖由 allenren 于 2011-3-17 17:02 发表 bbcodeurl('http://bbs.antpedia.com/images/common/back.gif', '%s')
呵呵,老兄,我也没做过,我是请教一下可否做

我见过有人对几个微米的氧化膜做了类似分析,用的设备国内好像只有核九院有。你这个样也我觉得是不可能了。
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