X射线荧光仪器分析误差的来源
X射线光谱分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品分析测量的精度，被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素，在样品制备方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：
1. 采样误差：
非均质材料
样品的代表性
2. 样品的制备：
制样技术的稳定性
产生均匀样品的技术
3. 不适当的标样：
待测样品是否在标样的组成范围内
标样元素测定值的准确度
标样与样品的稳定性
4. 仪器误差：
计数的统计误差
样品的位置
灵敏度和漂移
重现性
5. 不适当的定量数学模型：
不正确的算法
元素间的干扰效应未经校正
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