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消除样品矿物效应的有效制样方法 玻璃熔片法

消除样品矿物效应的有效制样方法

　　玻璃熔片法

　　制样与分析技巧介绍

　　株式会社 理学

　　X射线荧光事业部

　　应用技术中心

　　介 绍 内 容

　　•玻璃熔片法

　　•分析误差的要因

　　•校正检量线法

　　基体校正公式,基体校正模式(各种模式的比较)

　　基体校正常数比较,稀释率校正

　　强热减量・强热增量校正, 助溶剂挥发校正

　　•结论

　　X射线荧光分析的应用领域 与 玻璃熔片法的使用行业


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