X射线多晶体衍射（XRD）

在做小角XRD时，从0.5度开始，机器峰很高，40000左右并逐渐降低，但没有完全降下来，导致在0.5-2度间出的峰基线很高。请教怎么解决？

这是由于角度越低接收到的散射信号越强所致。

同样样品，同样条件下，有时做出过基线在0.5-2度很平的XRD谱图啊

我也是做小角度的，用同一台仪器，不同的时间做过同一个样品，但结果差别很大。

可能是仪器问题（仪器修过）或者是样品时间长了，结构变化了（介孔材料）。

我以前也遇到过这样的问题，你可以换一个薄一点的片试一下

X-光与物质作用时主要受到电子的散射，无论物质是否呈结晶态，都会存在非弹性散射(即Compton散射)。由于Compton散射改变了X-光动量和能量(矢量速度改变)，运动方向和速率(对应波长)同时改变，且散射角越大波长变化越大。可以预测，大部分散射X-光集中于散射角变化较小的范围内，因此不难理解入射角度越低接收到的散射信号越强。
从另一方面解释，X-光在两种介质界面处的传播有反射和折射两种现象，因物质对X-光的折射率小于1，当X-光以低于临界角(与X-光波长和原子序数有关)的角度掠入射到固体表面时，尽管入射深度极为有限，在忽略样品吸收情况下可视为发生全反射，但样品吸收是实际存在的，随掠入射角提高反射率是逐渐下降的。
当然，由于样品的理化性质差异、制样时的表观密度、平整度、均匀度以及重现性，都是造成背景显著性差异的原因，不一定是仪器的问题
。

怎么解决小角XRD基线，在0.5-2度基线不平的问题，样品无差别条件下？