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标题:[未解决]对XRD计算的平均尺寸进行统计学处理?

  [未解决]本主题悬赏 可用分 10  
Andrew[使用道具]
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对XRD计算的平均尺寸进行统计学处理?

初次接触xrd,扫描一批样品后获得多个图谱,并分别应用谢乐公式计算得到平均晶粒尺寸,如25±0.9、21±0.6等,对于这样的数据(平均数±标准差)大小进行阐述,看到文献里直接给出前者大于后者的结论……能否进行统计学分析,获得二者比较的t值或者p值?请问选择什么统计学方法?
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nodoor[使用道具]
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XRD已经是体分析了,本身就是对多晶样品各晶粒的平均.可以直接比较.
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江鸟[使用道具]
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“XRD已经是体分析了,本身就是对多晶样品各晶粒的平均.”该解释欠妥吧
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新手上路[使用道具]
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按不同的峰,算出的晶粒大小是不一样的,个人认为应该求平均
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天蓝[使用道具]
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如果用洛伦兹或者高斯卷积计算峰形(或者两者都用),则算出来的晶粒尺寸就是一个值, 不存在什么平均. 在fitting全谱的时候已经平均了. TOPAS BGMN GSAS都是可以的...
除非你要考虑各向异性晶粒尺寸,那可以设置多个方向的晶粒尺寸参数. 也不存在将计算结果再"平均"的过程.
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No.1[使用道具]
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不晓得Jade这种半自动软件有没有卷积计算功能, 还是只能算单峰对应的尺寸.....
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