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标题:[未解决]用XRD测试纳米级别的薄膜样品要注意什么？

  [未解决]本主题悬赏 可用分 10  
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发表于 2011-8-24 23:51 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

用XRD测试纳米级别的薄膜样品要注意什么？

求教，用常规XRD测试(学校设备不能做掠入角)纳米级别的薄膜样品，要注意什么？ 怎么设置可以得到更好的图谱？ 可以降低背底的影响。
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ice[使用道具]
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发表于 2011-8-24 23:54 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
如果你只有粉末衍射仪，基本上做不起来
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天蓝[使用道具]
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发表于 2011-8-24 23:58 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
除非是转靶
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发表于 2011-8-25 00:00 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
尽量扫得慢一些吧。
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发表于 2011-8-25 00:04 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
如果用普通的粉末测试仪，具体怎样设定参数才能获得更好的数据呢？
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真善美[使用道具]
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发表于 2011-8-25 00:09 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
同问XRD测试薄膜 测试的深度一般是多少呢？
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