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标题:【求助】通过透射图片看到的晶粒尺寸大概在5nm

p1900[使用道具]
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发表于 2015-8-12 10:17 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【求助】通过透射图片看到的晶粒尺寸大概在5nm

通过透射图片看到的晶粒尺寸大概在5nm，但是XRD计算的结果是10nm。求指教。希望大家多多交流，如果问题得到解决，可以追加金币！
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rrra6[使用道具]
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发表于 2015-8-12 10:18 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

TEM没代表性
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jishiben[使用道具]
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发表于 2015-8-12 10:18 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

你的TEM看的只是其中一个非常小的部分，可能你的粒径分布不均
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n111[使用道具]
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发表于 2015-8-12 10:19 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

原因很多，你的XRD性噪比高吗？半峰宽是否准确，TEM还是可以看出来是否分布均匀的，你扣除仪器展宽没
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hcy517[使用道具]
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发表于 2015-8-12 10:19 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

相信TEM的统计数据。
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qinqinai[使用道具]
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发表于 2015-8-12 10:20 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

1. 10 nm以下，谢乐公式不适用了；
2. 对于纳米材料，一般情况下（或者说所有情况），谢乐公式得到的尺寸都偏大，因为纳米颗粒的晶粒尺寸大到一定程度时，应力引起的宽化比较显著
总的说来，以TEM为主，如果是半导体材料，可以看看吸收光谱，再说了，nm本来就是个很小的单位了，你还想怎么精确？
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发表于 2015-8-12 10:20 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

原因太多了，仪器误差，粒径分布，表面配体量什么的对图谱都有影响
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蓝色雨梦[使用道具]
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发表于 2015-8-12 10:21 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

TEM只是局部现象，XRD也不过是半定量，不一定就是准确的！
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QQ爱[使用道具]
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发表于 2015-8-12 10:21 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

这个不需要什么文献
学过XRD的都应该知道的
纳米半导体，肯定会出现这种情况的，只要审稿人不是外行，就不会揪着这个问题的
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rrra6[使用道具]
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发表于 2015-8-12 10:22 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

应该TEM测量的比较准，首先谢乐公式是有一定适用范围的，再有就是XRD测量的是晶粒尺寸而非颗粒尺寸
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