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标题:【求助】阻抗分析仪测压电厚膜的介电常数

yazi[使用道具]
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发表于 2015-8-26 14:05 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

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干扰引起的峰。没什么特殊意义。
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小熊妮妮[使用道具]
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发表于 2015-8-26 14:06 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

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我有一个问题哈：测铁电如果将铁电粉末使用浸渍或旋涂到FTO上，再在上表面镀电极，这么测量可以么？
好像大家都是用上下表面相同的金属电极，样品方面也是外延沉积膜，没见过那么做的，可能那么做有问题，也可能是看得少罢，请指教啊:arm:
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yuanyuan[使用道具]
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发表于 2015-8-26 14:07 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

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指教不敢，你的做法太理想化了。粉末之间不致密，损耗较大，不能准确测量。
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wwwh[使用道具]
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发表于 2015-8-26 14:07 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

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想问一下，厚膜上电极涂金属需要把整个厚膜面都涂上金属吗？
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aaby[使用道具]
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发表于 2015-8-26 14:08 资料 个人空间 短消息  加为好友 QQ

 小中大

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不需要，一般是做点电极，直径大概两百微米，这样一个试样上会有多个测试点，便于重复测试或不同类型的测试，比如测阻抗谱、I-V等。
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小女人@[使用道具]
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发表于 2015-8-26 14:08 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

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谢谢了！但是要是涂点电极，对于厚膜来说，厚膜涂在基板上不是本身有一层底电极吗，那厚膜的上下电极的面积就不一致了，这样影响吗？
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