颗粒计数器

合成了一种无机盐，TEM中有晶格条纹且为多晶环，但XRD为无定形包，不知道什么原因? 另外，这个无定形物会变成晶体，那么这个过程是相变过程么？ 实在搞不懂，盼高人指点。

可能是TEM发现的是一个很小的局部，在XRD里就显示不出来了吧

谢谢回复。但从TEM中看，晶格条纹存在是普遍现象，而且为多晶衍射环，是不是因为结晶度不高？很费解。。。。

晶粒要是太小了，确实XRD里面没有明显的衍射峰。

晶粒细小，发育不好，结晶的数量少，这是难以发现衍射峰的主要原因

按照楼主所述，TEM显示多晶环是因为TEM通过电子打在样品上是微小的一个点，可能正好打在某个晶粒上，另外在TEM检测过程中，如没有发现斑点，检测人员会调整样品位置，这是他们的检测习惯，这样一定会呈现斑点。而XRD检测反映的是面积相对大的某个区域，如是非晶，则没有明显的衍射峰。供参考！

综合前面几位的解释，我的理解是无定形和微小晶粒同时存在，从晶体角度结晶度很差，从宏观上无法表现衍射峰。

如果打在某个晶粒上，应该看到的是分立的衍射斑点，而不是多晶环吧？

个人检测经历:
    HRTEM 检测中，若被检测物质对高能电子束敏感的话，则可以出现 晶体与非晶的互相转变，相关论文甚多。

我先前回答的是晶粒要是太小了，确实XRD里面没有明显的衍射峰。可是看衍射环很强，而且最强的那个衍射环明显有衍射斑出现，就是说形成的是多晶，且这个晶向的晶粒还是比较大的，应该XRD是会检测出来的，峰强可能不会太强，不过还是会有的。首先你要保证两次实验的退火温度是相同的，然后对于XRD的话，要是薄膜的话，薄膜要厚，粉末的话样品也要多，这跟TEM样品是不一样的。高分辨TEM样品要20nm左右，所以如果XRD样品也是同样厚度的话，那XRD峰也会很弱。第三种可能就是上面说的样品对电子束敏感的话，是可能发生结晶的。我所做的材料就对电子束相当敏感，可以使得其结晶。