颗粒计数器

求助！！afm统计的平均直径是三维平均直径吗？和激光粒度仪的有啥不同？
我想做一个300μm左右的颗粒，厚度大概在100-300微米左右，可以用AFM表示此颗粒群的平均直径和平均厚度吗？扫描电镜只可以出二维的平均直径，我比较想测量体积平均直径！谢谢大家！

激光粒度仪是通过溶剂化后的粒子对激光的散射程度来推算出粒子大小的。AFM测量精度在垂直方向最高，但侧向尺寸依赖与针尖的尺寸。SEM无法测量高度，但侧向尺寸的精度应该是最高的。你的粒子尺寸很大，AFM和SEM都可以保证误差很小。如果你能够在基板上铺单层微米粒子，如果粒子又是比较圆形的球体的话，SEM最方便。其次，才是AFM, 不过你也可以两个都用，来比较它们的数据，如果两种方法测量的直径差不多的话，选用SEM直径，用AFM测量的高度数据，这样比较准确。

但我看有的人说几十微米厚做不了AFM？用AFM做出的高度数据是不是无法与其俯视面的直径结果对应起来？就是说，我只能得到一个俯视的直径分布和一个侧面的平均高度，而不是一个颗粒具有完整的数据（直径+高度）？

哦，忘了说一句，AFM的悬臂梁适合的振动幅度不超过6um, 因此，你的几百个um的样品，SEM是最合适的。
你在基本上铺上一层粒子，如果能将基板扮开成两片，用SEM照断面，就能看出粒子的高度。

您好，请教一个问题。原子力显微镜所测的高度和TEM所测得粒子大小有什么区别和联系，是不是 如果原子力显微镜测的是球形氧化铁纳米颗粒，那么测得高度只是球表面的高度吗？包不包括球形氧化铁纳米颗粒的直径 求解答  谢谢

AFM测试的粒子的高度是相对于支撑粒子基板平面的高度，SEM和TEM都不能测量高度的，但但粒子为球形是，这些粒子的直径（侧向尺寸）也就定于其高度，这个直径应该是绝对值，而AFM测出的高度是相对于基本的高度，如果基板表面平整，粒子没有变形的话，AFM测出的高度与TEM/SEM测出的直径应该是相等的，或近似相等的。