颗粒计数器

拉曼能测粒径？没见过。一般不都是电镜测的吗。

有观点认为Raman所谓的晶粒和略入射小角X射线散射grazing incidence small angle X-ray scattering (GISAXS)所说的晶粒不是一回事，文献Applied Surface Science 254 (2008) 2748–2754所列的参考文献22，所以是不是XRD和Raman所测试得出的所谓“晶粒”也不是同一概念，是不是是晶粒和颗粒的区别。

我个人也感觉Raman和XRD测试的结果相差很大，我的纳晶硅薄膜样品，测XRD，只要出现衍射峰，根据谢乐公式计算的“晶粒”尺寸就是18nm左右，不同处理方法得出来的差不多，但实际上应该是有比较大的区别的，但不知道为什么任何样品的晶粒尺寸都是16-18nm，根本没法说变化。我也用Raman光谱峰位变化计算过，Raman得到的4-5nm的样品XRD计算是十几纳米。Raman计算晶粒感觉好像也不好说，毕竟Raman峰位受应力、热效应等很多因素的的影响。我所用的Raman光谱仪JY HR800之前用单晶硅校正峰位后，得出纳晶硅薄膜样品峰位在516-518左右，现在换了一个激光器，同样单晶硅校正峰位后，纳晶硅薄膜峰位在510-513附近，这样和以前Raman计算的晶粒尺寸就差的比较多了

用TEM拍的照片统计过晶粒尺寸，和Raman峰位518附近计算的晶粒尺寸差不多，所以我个人认为TEM和Raman(理想情况下，比如峰位在518附近时)得出的应该是晶粒尺寸，XRD是不是应该算是颗粒尺寸。至于AFM和SEM之类的，个人感觉就是表面颗粒而已，和晶粒无关。
仅仅是个人观点，呵呵

通过谢乐公式算的一般是一次粒径的，你要分清一次粒径、二次粒径、三次粒径概念！不要混淆

书上说，谢乐公式计算的是晶粒度，也就是晶粒（crystallite，微晶）的尺寸，不是颗粒的尺寸。
我的理解是：如果纳米颗粒是单晶颗粒，那么测得的晶粒尺寸就是纳米粒子的粒径；否则，不一定是纳米

由于仪器原理、精度等问题XRD是测不出低于5nm的东西的，并且谢乐公式也是有一定的误差的，你的参数精确度对你的结果也有影响，所以你的结果应该是没有太大问题的，属于正常误差范围。