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标题:[未解决]【转载】【求助】X荧光检出铝合金Mg、Si元素有差别

  [未解决]本主题悬赏 可用分 1  
小红[使用道具]
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发表于 2015-10-1 21:32 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【转载】【求助】X荧光检出铝合金Mg、Si元素有差别

大家好，我们的设备是岛津XRF-1800，检验AlSi10MgCu（原材料）时，Mg是0.32.Si是11.79，而我用光电直读时，Mg是0.35，Si是  10.10，请问这个为什么会有不同呢，我们也知道应该出哪个结果啊 （Mg：0.35-0.45，Si;9.0-11.0)
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小黄[使用道具]
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发表于 2015-10-1 21:33 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
两种方法之间会存在误差，误差较大时，是否考虑标准曲线，制样问题
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发表于 2015-10-1 21:35 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
两种方法之间会存在误差，误差较大时，是否考虑标准曲线，制样问题
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发表于 2015-10-1 21:36 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
应该考虑重新建立校准曲线，标样表面要处理好，并且平。
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小熊猫[使用道具]
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发表于 2015-10-1 21:37 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
建立校准曲线，能说的具体点么，我有点不是很明白
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发表于 2015-10-1 21:38 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
看标准样品。制样没有问题的话，X荧光应该好一些。
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