【内容简介】
当前，纳米材料在不同的领域中引起了持续而广泛的研究热潮，纳米材料在纳米尺度上展示出来的一些特殊物理性质和化学性质，以及他们在电子学、光学、催化和生物医药等领域表现出的巨大应用潜质。
Perkin Elmer公司在飞行时间质谱技术的基础上突破性地引入了可代替前端液相分离系统的直接进样分析技术(Direct Sample Analysis, DSA)，可直接快速分析固、液、气态样品，而无需色谱分离，无需复杂的样品前处理，极大地提高分析工作效率。在特别注重时效性的研发过程中，运用直接进 样分析技术和飞行时间质谱技术相结合的DSA-TOF，辅以专门的筛查和鉴定软件及相应数据库，可以对各类纳米材料样品进行快速筛查及鉴定分析并得到准确 结果。
注册报名：http://vote.antpedia.com/index.php?sid=68311&lang=zh-Hans
讲座时间：11月4日下午14:00
主讲人：蔡成元，质谱产品专员，毕业于中国农业科学院，2014年加入Perkin Elmer，负责食品安全，环境监测，生物医药等领域质谱产品技术支持工作，具有多年质谱使用和支持经验。
讲座结束后，我们将从注册并准时参会者中抽取
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