【转载】：【求助】XRD配备jade7.0求测量位错密度的方法

需要登录并加入本群才可以回复和发新贴

[未解决]本主题悬赏可用分 1

jiankufanhan[使用道具]
一星
Rank: 6

UID 71374
精华 3
积分 4177
帖子 7621
信誉分 106
可用分 12412
专家分 0
阅读权限 255
注册 2011-8-24
状态离线

小中大

我这里XRD实验做好了，用7.0分析，但是不知道怎样得到位错密度。

根据线型，能得到半高宽，平均晶粒尺寸啥的，怎么转换为位错密度，各位高手帮我一下啊

vbnm[使用道具]
一星
Rank: 6

UID 119927
精华 2
积分 4008
帖子 7368
信誉分 104
可用分 12070
专家分 0
阅读权限 255
注册 2014-2-3
状态离线

小中大

从FWHM的衍射角度分布分析晶粒尺寸以下的缺陷，不靠谱。

因为信息量本来就不多，而且影响因素非常多。

当然，如果你有高超的制样水平和测试水平，从XRD得到一些和电镜自洽的结果不是没有可能。请参考马普所(斯图)最近的一篇文章，研究层错的，方法学讲得很仔细，其部分参考文献我想对你很有帮助。

UID 71375
精华 5
积分 10524
帖子 16352
信誉分 106
可用分 24337
专家分 1
阅读权限 255
注册 2011-8-24
状态离线

小中大

看了一些中文文章，有人说可以通过xrd线型分析得到位错密度，但都是模棱两可的得到了，不知道方法，有些傅立叶积分啥的也看不懂，因此想问一下，希望有人能简单明了的告知，嘿嘿。

谢谢大陆兄，我去研读一下这篇文章！

UID 71377
精华 2
积分 6046
帖子 10106
信誉分 103
可用分 17361
专家分 0
阅读权限 255
注册 2011-8-24
状态离线

小中大

jade 7.0 谁有哇?麻烦发一份 869832476@qq.com