透射电镜之家

有几个问题咨询一下：
（1）做一般暗场像时，套取衍射斑点，是通过机械方式实现的，还是通过倾转电子束实现的？
（2）两相材料中，第二相颗粒为几十纳米，怎么样都才能获得第二相衍射斑点？
（3）透射电镜条件下，能谱分析可采用的最小电子束斑能达到多少？

1）一般做暗场像直接通过物镜光阑套住衍射斑就可以实现，中心暗场貌似要切换到Dark模式，倾转电子束；
2）几十纳米获得单个析出相的斑点也是可以实现的，不过很微弱吧；
3）能谱分析可采用的最小束斑尺寸和电镜的规格有关吧，不同电镜能达到的精度不同。
期待大牛补充。

晶带轴不同，衍射斑点在透射斑点的各个方向上，都是通过机械调节物镜光阑套的吗？如果套住衍射斑点成像，光路是不是就不对中了？

（1） 我的经验是机械移光阑方式和转光束方式得到的像差别微乎其微。再者，偏转光束之后找到同样的双束条件做暗场，样品还要做很小的偏转来补偿。一般低指数衍射斑到透射斑的夹角只有几个mrad，由此引入的像差很小，可以忽略。
（2）可以做纳米束衍射，或者用STEM最小的probe单点探测，用底片或者CCD拍。
（3），不知道