【求助】用透射电子显微镜观察氧化铁纳米微粒

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标题:【求助】用透射电子显微镜观察氧化铁纳米微粒

yayayu[使用道具]
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发表于 2015-12-7 12:59 资料个人空间短消息加为好友

小中大

用透射电子显微镜观察氧化铁纳米微粒，可以测出粒径大小分布及平均粒径吗？

hcy517[使用道具]
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发表于 2015-12-7 13:00 资料个人空间短消息加为好友

小中大

【回复】

TEM测出来的都是不准确的（因为需要自己选择后手工估算），准确的要用粒度分析仪或Zeta电势仪或DLS

跳跳哈里[使用道具]
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发表于 2015-12-7 13:00 资料个人空间短消息加为好友

小中大

【回复】

可以，但很可能因为取的区域总是相对整体太少，所以整体可信度不如动态光散射。

malong[使用道具]
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发表于 2015-12-7 13:00 资料个人空间短消息加为好友

小中大

【回复】

动态光散射等精确度高？
为什么一般文献都是用tem做分析呢

兔子[使用道具]
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发表于 2015-12-7 13:01 资料个人空间短消息加为好友

小中大

【回复】

最简单粗糙的方法就是在图中画一条线，将线的长度除以晶粒个数就是粒径

xiaoxiaojinglin[使用道具]
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发表于 2015-12-7 13:01 资料个人空间短消息加为好友

小中大

【回复】

用电镜测出来的根本就不是原来形貌，用什么手段测量都没用的。
你想想你的制样方法，他是要滴在铜网上干燥后才观察的，都不知道发生了什么情况，测出来也不知道是不是你样品的原始形貌。
最好是做原位的测量，比如粒度仪或Zeta电势仪，同意2楼的。

今生如此[使用道具]
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发表于 2015-12-7 13:01 资料个人空间短消息加为好友

小中大

【回复】

对于粒径比较小的纳米级颗粒，粒度仪是不适用的，只能用TEM，但问题是代表性，要尽量照颗粒分散好而且多的区域，多拍一些照片算平均值，结果还是可以的，我们做过这样的工作，和XRD结果差距不大，前提是单晶纳米级颗粒，一些纳米材料国家标准中也有规定TEM粒径测量方法，好像要求一个照片中量不低于100个颗粒算平均值，如果材料分散性好就用软件直接计算，分散的不好就手量吧

rrra6[使用道具]
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发表于 2015-12-7 13:02 资料个人空间短消息加为好友

小中大

【回复】

当然不行了，制样得到的都是分散较好的，粒径较小的，这个平均粒径没有任何价值！