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标题:[未解决]【转载】【讨论】金属样品的测试

  [未解决]本主题悬赏 可用分 1  
铃儿响叮当[使用道具]
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【转载】【讨论】金属样品的测试

对于合金中微量成分的测试,大家一般会遇到那些问题?
背景过高导致谱线干扰;基质的记忆效应明显,影响后续其他样的测试……
大家来谈谈吧!
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ay123[使用道具]
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比较常见的就是金属中铁元素对铅的干扰问题,这个比较普遍
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铃儿响叮当[使用道具]
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回复 #2 ay123 的帖子

金属基质谱线多,背景大时谱线的强度也大,经常会影响此谱线附近的待测元素的谱线。铜对铅见过很多。
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small2011[使用道具]
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不知道用标准加入法能否完善之
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如果是PE的,试试msf
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ay123[使用道具]
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回复 #4 small2011 的帖子

可能不 一定能解决,谱线的干扰
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ay123[使用道具]
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回复 #5 龙泉 的帖子

MSF与FACT还是有区别的!
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龙泉[使用道具]
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回复 #7 ay123 的帖子

是的,瓦里安的Fact与PE 的IEC类似
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夜蓝星[使用道具]
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据说耶拿的谱线分辨率高一些,当然可以试试ICP-MS
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铃儿响叮当[使用道具]
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回复 #9 夜蓝星 的帖子

TDS太高,上ICP-MS必须稀释,而且也同样污染仪器。
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