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标题:[未解决]【转载】【讨论】Agilent的FACT与IEC的联系与区别？

  [未解决]本主题悬赏 可用分 1  
small2011[使用道具]
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发表于 2016-1-20 07:59 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【转载】【讨论】Agilent的FACT与IEC的联系与区别？

熟悉Agilent 的同行都知道，FACT与IEC是其软件特色应用，那么FACT 与IEC的联系与区别有哪些？
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ay123[使用道具]
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发表于 2016-1-20 07:59 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
Fact要求谱线相距0.4 pm.IEC可以用于谱线完全重叠，这些功能批示都很少用。
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small2011[使用道具]
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发表于 2016-1-20 08:00 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

回复 #2 ay123 的帖子

相距0.4pm?.........
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小熊猫[使用道具]
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发表于 2016-1-20 08:00 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
IEC用在谱线完全重合干扰下准确度会比较高，FACT则对部分谱线重叠干扰也可以做校正，不过说到底它们基础都是准确的谱线定位和数学模拟计算，还是要结合QC判断准确性
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ayanyang[使用道具]
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发表于 2016-1-20 08:01 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
这个没有必然的联系吧？
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jkh123[使用道具]
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发表于 2016-1-20 08:01 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
FACT本质上是利用多谱线拟合进行光谱解析，IEC是利用化学计量学进行干扰扣减。
实际上是用概率极低，IEC的话哪家仪器都有这个功能，就算没有自己手动做也难度不大。
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小牛牛[使用道具]
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发表于 2016-1-20 08:02 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
那MSF呢？
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