X-荧光

求助：
        最近希望利用ED-XRF测试CdS膜层的均匀性。
1，测试时会有Ar K线系与Cd L线系重叠；
2，但样品室不能抽真空，也没法在探测器附近吹N2气，排除Ar的影响；
3，如果能通过Auto focus让探测器与每个测试点的距离保持一致；
      是否可以认为每个点的测试结果中Ar的影响是一样的，可以相对的测试出Cd的信号强弱变化，从而得出不同位置的CdS的膜层厚度？

先考虑Rh对Cd的干扰吧。相对于Ar来说，Rh对Cd的干扰更大一些。
建议用Cd的K线，使用黄铜滤光片，或者换一个不是Rh靶的光管，直接测CdKa线即可。

非常感谢 我的是Cr靶，不存在Rh对Cd的干扰

补充说明一下，Cd 的K线非常弱，基本看不到信号

其实应该再同意稳定的环境中Ar的影响是接近于一定的，这是我们就可以把Ar和Cd看做一个整体做分析就可以了。

整体分析，结果如何区分？