X-荧光

测角仪的工作原理是什么？最好能配上示意图和文字，
先谢谢大家。

测角仪是WDXRF仪的核心部件，目前推出的是第四代产品，其特点是探测器和晶体系统可以单独转动，精度能达到±0.0002度，其关系的调节，由微处理器自动完成。

这个问题不错，我简单的说下，不一定对，参考一下：
从布拉格公式讲讲，表达式为：nλ=2dsinθ
简单点就是晶体反射过来的光线，不同角度对应的波长就不一样，特定角度就对应一个元素，测角仪就是改变探测器不同测量角度的机械传动部分，包含准直器、晶体、探测器。测角仪实现的就是在一定的角度范围内不同元素的测量。

XFR中的扫描道就是这样的，属于一种接近全元素分析设备，但是在分析是时间比较长，一般应用到理论定性分析中，查找样品中含什么元素。

你那有图片吗。附上图片理解就更好了。

理论上是全元素分析设备，因为角度可以全范围的转动，那么是哪些条件限制是的XRF实际上无法达到全元素分析呢。