小中大【转载】:【讨论】xps信号中到底空白C污染有多大?
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纳克容易元素分析仪XPS容易分析样品nm深度的(除H、He元素外)各种元素,虽然随着仪器设备的技术提高,仪器分析过程中产生的污染可能性大大降低,但是作为环境样品,在采样和运输过程中的污染是需要考虑的问题,如果得到的样品信号都是ARTIFACT,那i只能是误导后续的研究,有百害而无一利,因此准确评估整个分析之前的空白对XPS的信号的影响是一个非常重要的内容,为此做了一些小小的计算,供大家探讨。以我打算做的样品为例 25mm直径GF/F滤膜,全程空白(所有样品的步骤空白膜都参与,灼烧去除碳、过滤用MQ水、高纯盐酸熏去除无机碳、真空干燥器干燥)为10ug C(元素分析仪分析结果,技术人员给的经验数据6~10ug C......