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标题:[未解决]【转载】【求助】Al的TEM截面样品制备

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【转载】【求助】Al的TEM截面样品制备

以前做过基底是氧化锆的涂层的截面样品,现在做的样品基底是Al,因为金属Al非常软,延展性很好,抛光磨的过程中发现两个对粘的表面容易乌到一块,两个表面中间的gap也越来越大。不知道在座没有人做过比较软的金属的TEM截面样品,帮忙提出一点建议,不尽感激!
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铝样品比较好磨,在研磨过程中加水了吗,怎么研磨的,说说步骤,用的多少号砂纸
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只用FIB做过Al的截面样品 需要比较好的经验可以做出来用来做STEM高分辨的样品
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回复 #2 但是 的帖子

加了水啊,但是用400的开始磨的,一直到1200,1200以后又用diamond film 从1um到0.5再到0.25μm。
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回复 #3 jom 的帖子

FIB的话太厚了,100nm的厚度做不了高分辨啊
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回复 #3 jom 的帖子

难道你能用FIB得到20nm左右厚度的样品?
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个人觉得400号砂纸有点粗,虽然磨得快,由于是截面样品,很容易产生铝沿着你研磨的方向发生拉伸,你可以在每道研磨工序后,用显微镜观察一下,确保你所要观察的那个涂层不要被铝所覆盖,在最后几道研磨过程中,研磨方向最好是平行截面的方向
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回复 #6 nsdm 的帖子

可以~
。。。。。。
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回复 #5 nsdm 的帖子

FIB要做出一个可以做普通高分辨的Al截面样品很容易
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回复 #7 但是 的帖子

请问什么是平行截面的方向?是指跟对粘的界面平行?这样的话那些grinding particle会跑到对粘的空隙里去吧?
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