【求助】测试薄膜的XRD导致样品的峰被压得看不见了 - 经验共享 - 分析测试百科

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标题:【求助】测试薄膜的XRD导致样品的峰被压得看不见了

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发表于 2016-2-23 22:47 资料个人空间短消息加为好友

小中大

【求助】

扫描的时候可以考虑使用掠入射扫描，应该可以减少基片的影响

PP熊[使用道具]
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发表于 2016-2-23 22:47 资料个人空间短消息加为好友

小中大

【回复】

那就不晓得了，我以前做的薄膜是20层的，五六百纳米的

wawa11[使用道具]
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发表于 2016-2-23 22:47 资料个人空间短消息加为好友

小中大

【回复】

你可以用XRD的小角衍射的方法，采用斜入射的方式，使得X射线在薄膜中穿过的比较长，穿透到达衬底的强度弱，从而使得衬底的衍射峰弱。

qinqinai[使用道具]
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发表于 2016-2-23 22:48 资料个人空间短消息加为好友

小中大

【回复】

你是用什么测的，测薄膜用了略入射没有，略入射的角度调整好薄膜的峰就会很强，相应会降低基底的衍射峰了！

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