X-荧光

在计算检出限时,是用空白样品测定,然后计算标准偏差,还是选任意的样品测定10次后,计算标准偏差?

对于本测试方法中使用的每套操作条件，均应使用如下的等式 1 评估检出限 LOD。
（1）
其中
LOD  为检出限（LOD），单位为浓度的单位；
σ  为使用空白溶液进行多次测量结果的标准偏差，标准偏差经常只使用一组
（但不少于 7 个）测量值来评估，在这种情况下，用符号 s（评估标准偏差
σ）来代替 σ。
备注：检出限是一个关键的参数，它告诉使用者光谱仪是否在正常条件下工作，是否使分析物的检出浓度处于
限值之下足够低的浓度，以便有效地作出判断。检出限是测试过程的一个功能，在测试过程中，材料是一个重
要的部分。如果当材料发生变化，测量过程也发生变化，检出限也会跟着发生变化。为了达到最佳性能，检出
限应小于或等于实验室处置界限的 30%，处置界限的建立是为了提供最大的可接受的不符合风险。

一般使用同类型样品中含量大部分相对偏低的样品测量12次，然后去计算。

关于X射线荧光光谱仪测试偏差问题,得重复测试同一样品7次以下方可计算标准方差.

7次以下还是7次以上？

我也想问一个问题，XRF的方法检出限，也是一个低含量的样品测定12次以上，计算3倍的标准偏差吗？或者还是有其他的计算办法。大家讨论一下吧 。