光谱之家

我测一个比较薄的几十um，前后面都抛光的样品，然后测红外的透射谱，透射谱中出现了前后表面的干涉，这样我如何确定这个样品的真实透过率呢？也就是如何消去这个干涉呢？

可以试试以下几种小技巧。
（1）将样品边缘垫高，但是垫起硅片的东西不能被红外光斑照射到，即不在光路上。依据是样品垫高后会改变光程差，可能就能消除干涉条纹；
（2）尝试一下改变分辨率，我个人认为应该降低分辨率，如果你现在用的1cm-1的分辨率，那么可以试试2cm-1，4cm-1；
（3）不要让样品和光路垂直，即样品倾斜一个角度；
（4）如有条件，可以试试用配备有布儒斯特变角附件的红外光谱仪。

3）不要让样品和光路垂直，即样品倾斜一个角度；或改变光程差对于相干长度较高的光源可能没什么用。只是改变干涉条纹间距之类的。其实那相干的透射谱是比较难看，但对于基本的峰谷判断应该影响不大吧，做一个点状图为没那么明显的。期待更好的解决方法~

第（3）点 实验验证无效....@@ 只是位置有点移动....
bruker 80V 有（4）这样的附件嘛？

你如果只是测透射率，先加个毛玻璃试试，我也不太清楚，你做个试验，有结果了告诉我哦。呵呵。

如果知道模的厚度和折射率实部，而且楼主比较闲，可以直接把模的透射干涉谱算出来，然后在透射谱上扣除就行了

调整一下元件的距离