小中大UPS 和XPS 在一定程度上都可以反映样品的价带谱：
从光源上看：UPS采用He I/II态产生紫外线，HeI 紫外线能量21.22eV，HeII紫外线能量为40.82eV,PHI公司的UPS能量分变率为0.12eV。XPS通常采用Al Ka线，光子能量为1486eV，PHI公司的XPS能量分辨率为0.48eV（可能和安装环境有关）。UPS较XPS能量分辨率的提高，决定了用UPS可以检测到价带谱更精细的结构。
从激发截面看：用紫外线激发较X-ray激发外层电子有更大的散射截面，这代表UPS检测价带谱较XPS检测价带谱有更高的计数比，通常情下PHI公司的UPS计数为Mcps，而用XPS则只有几百cps.
从检测深度来看：UPS激发的价带电子动能较XPS激发的电子动能小，所以信息来源深度更浅。总之对表面状态更加敏感。
综上，UPS较XPS更适合得到材料的价带谱结构。
