X射线多晶体衍射（XRD）

有一个问题想问一下楼主，全反射在测试固体样品和液体样品时，需要做前处理么，另外对样品的放置位置有没有要求。一般前处理有什么要求

固体样本为熔融表面光滑，均一，样品本身理论可以做反射体，全反射临界角位置，不同材质全反射角不同。



粉末样品150-200目，由于颗粒效应达不到全反射，要么熔融要么溶解成液体。可以直接测粉末，集体效应大幅低于通常的X射线荧光装置。



水液体滴在载片上，中心位置固定，烘干即可测。



以上大体方法，各种材料不同根据结果细微调整，有待研究处理。



需要说明的是反射体（载片）是高纯度，机械强度大。性质稳定，高平整度。是仪器的重要关键部分。

那么我测试固体样品是不同的表面粗糙度，对测试结果有影响么？

另外能将你发的仪器图片的资料发给我看看么？因为现在全反射好象很少用，不知道到底能不能用于普通的测试。

粗糙表面不具备全反射条件

问知道哪里可以提供全反射X射线荧光测试的服务，谢谢

德国布鲁克全反射X射线荧光光谱仪-S2 PICOFOX



TXRF产品特点：





快速分析，无需样品制备

检测下限低至 0.1 ppb

浓度范围：从 ppb 到100%

紧凑型,便携式及车载--应急检测

简单的定量分析，

多元素同时分析，元素范围 Al to U

只需连接电源  

无需耗材，气体和冷却水

关于全反射XRF的资料，可以参考附件

德国布鲁克的TXRF S2 PICOFOX的工作原理是基于全反射X射线荧光光谱(TXRF)。采用风冷的钼(Mo)靶X射线光管产生初级X射线，通过多层膜单色器后形成一束能量范围很窄的单色光，以非常低的角度(< 0.1?)掠射装有样品的抛光载片，并被全反射。样品中元素发出的特征荧光被能量色散型探测器检测。因为探测器与样品的距离非常近，荧光产额非常高，而空气吸收非常低。

全反射X射线荧光光谱法与常规的X射线荧光光谱法主要的区别是，在全反射荧光光谱法中采用单色光和全反射光学元件，用全反射光束激发样品荧光，并减少样品基体的吸收和散射。其优点是： 显著增强荧光产额，极大地降低背景噪音，从而拥有更高的灵敏度，可以进行微量元素分析

主要用途：用于分析液体、粉末、固体样品中常量、次量和痕量元素的快速分析，以及分析测试技术方法研究。能够迅速、准确分析从Al～U（除惰性气体及少部分元素外）的所有元素, 含量范围从1.0 ppb-100%。

你这个要是真的那就牛逼大了。