X射线多晶体衍射（XRD）

平时实验室针对样品种类比较多的情况，针对要求或多少有许多差别，针对你的实验室的仪器配置，从目前应用来看你的仪器能否出色完成要求，也可以畅谈下你的仪器对某个应用其中某些元素不是很满意的地方，或者通过你的方法改进有成功之处，欢迎大家分享下谢谢！

像我们的XRF能谱仪器测P就不行，一来是标准样品中标称P的含量太低了，仪器的响应度不够。二是我们测的某一类样品中含有很高的Zr，Zr的谱线与P有部分重叠，使P测的虚高，都1% 以上。解决方法，单独拿一些标准样品建了一条专门测P的曲线，结果还是不理想，难以分辨。最后定下方法的就是P全部用的化学分析的方法测定。

XRF用压片法做出来的成分不准确，只能用熔片法

可以试下k l线之间的微调 避开干扰强干扰 p本来是轻质元素测起来就不是那么容易

不知道你测试的是否是矿物质  采用溶样法来测 可以不受矿物效应颗粒效应的影响，

ZrLa和PKa线确实靠的很近，大约差30eV，在可以预期的未来十年内，估计能谱都不能有效的分开这两个峰。



提供两个建议您可以试试看：



1. Zr的含量很高，但是含量范围比较固定，这种情况可以尝试重叠校正的方式，测试出ZrKa或者ZrKb的强度，利用含Zr不含P的样品求出重叠校正系数，扣除ZrLa对PKa的干扰；



2. 制作含Zr不同样品，利用dj模型做修正，这个办法比上述办法麻烦一些。



另外，咨询两个问题：



1. 你们为什么要测试P啊？



2. P的含量范围大概在多少？

是矿物样品

你们的磷含量多高？



我觉得可以选择不同的谱线来分别检测磷和锆！

P很低啊，0.1以下，Zr 10%以上P就很高、而且用化学方法，比如锆英砂里面P都比不了色，浑浊的。

找仪器方的应用工程师。